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1. (WO2016064834) IMPROVED METHODS OF DETECTING FLOW LINE DEPOSITS USING GAMMA RAY OR X RAY DENSITOMETRY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2016/064834 International Application No.: PCT/US2015/056403
Publication Date: 28.04.2016 International Filing Date: 20.10.2015
IPC:
G01B 15/02 (2006.01) ,G01N 23/06 (2006.01)
Applicants: SHELL OIL COMPANY[US/US]; One Shell Plaza P.O. Box 2463 Houston, Texas 77252-2463, US (US)
SHELL INTERNATIONALE RESEARCH MAATSCHAPPIJ B.V.[NL/NL]; Carel van Bylandtlaan 30 NL-2596 The Hague, NL (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MG, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW)
Inventors: VARMA, Rajneesh; US
HATTON, Gregory John; US
Agent: HITCHCOCK, Thomas S.; US
Priority Data:
62/067,20322.10.2014US
Title (EN) IMPROVED METHODS OF DETECTING FLOW LINE DEPOSITS USING GAMMA RAY OR X RAY DENSITOMETRY
(FR) PROCÉDÉS PERFECTIONNÉS DE DÉTECTION DE DÉPÔTS DANS UNE CONDUITE D'ÉCOULEMENT PAR DENSITOMÉTRIE À RAYONS GAMMA
Abstract: front page image
(EN) A method of measuring a flow line deposit comprising: providing a pipe comprising the flow line deposit; measuring unattenuated photon counts across the pipe; and analyzing the measured unattenuated photon counts to determine the thickness of the flow line deposit and associated systems.
(FR) L'invention concerne un procédé de mesure d'un dépôt dans une conduite d'écoulement, comprenant les étapes consistant à : fournir un tuyau comprenant le dépôt de conduite d'écoulement; mesurer les décomptes de photons non atténués au travers du tuyau; et analyser les décomptes de photons non atténués mesurés pour déterminer l'épaisseur du dépôt dans la conduite d'écoulement, et des systèmes associés.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)