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1. (WO2016061936) SINGLE-BOARD TEST METHOD AND DEVICE, STORAGE MEDIUM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/061936    International Application No.:    PCT/CN2015/071488
Publication Date: 28.04.2016 International Filing Date: 23.01.2015
IPC:
G06F 11/00 (2006.01)
Applicants: ZTE CORPORATION [CN/CN]; ZTE Plaza, Keji Road South, Hi-Tech Industrial Park, Nanshan Shenzhen, Guangdong 518057 (CN)
Inventors: GUO, Na; (CN).
ZHANG, Kai; (CN)
Agent: CHINA PAT INTELLECTUAL PROPERTY OFFICE; 2nd Floor Zhongguancun Intellectual Property Building Block B, No. 21 Haidian South Road, Haidian Beijing 100080 (CN)
Priority Data:
201410568798.X 22.10.2014 CN
Title (EN) SINGLE-BOARD TEST METHOD AND DEVICE, STORAGE MEDIUM
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE TEST SUR UNE CARTE UNIQUE ET SUPPORT DE STOCKAGE
(ZH) 单板测试方法及装置、存储介质
Abstract: front page image
(EN)Disclosed are a single-board test method and device, storage medium, the method comprising: a tested apparatus obtains a command code and a component configuration file from a master control to parse the component configuration file to obtain component information and establish a single linked list of respective components for each command code; after the tested apparatus receives a test message sent by the master control, parsing the test message to obtain from the test message the command code corresponding to the current test item, and according to the obtained command code, determining the single linked list of components corresponding to the current test item, and printing the component according to the single linked list of the component corresponding to the current test item, and respectively testing each component in the single linked list of components corresponding to the current test item, recording a test result, and sending the test result to the master control.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif de test sur une carte unique, ainsi qu'un support de stockage. Le procédé comprend les étapes au cours desquelles : un appareil testé obtient un code d'instruction et un fichier de configuration de composants à partir d'une commande maîtresse de façon à analyser le fichier de configuration de composants pour obtenir des informations sur les composants et établir une liste liée unique des composants respectifs pour chaque code d'instruction ; lorsque l'appareil testé a reçu un message de test envoyé par la commande maîtresse, il analyse le message de test de façon à obtenir, à partir du message de test, le code d'instruction correspondant à l'élément en cours de test, puis, en fonction du code d'instruction obtenu, il détermine la liste liée unique des composants correspondant à l'élément en cours de test, il imprime le composant en fonction de la liste liée unique des composants correspondant à l'élément en cours de test, il teste respectivement chaque composant dans la liste liée unique des composants correspondant à l'élément en cours de test, il enregistre un résultat de test et il envoie le résultat de test à la commande maîtresse.
(ZH)公开了一种单板测试方法及装置、存储介质,方法包括:被测设备从主控获取命令码及器件配置文件,解析器件配置文件而获取器件信息,为每一命令码建立相应的器件的单链表;被测设备接收到主控发送的测试消息后,解析测试消息,从测试消息中获取当前测试项对应的命令码,并根据所获取的命令码确定当前测试项对应的器件的单链表,根据当前测试项对应的器件的单链表打印器件,并对当前测试项对应的器件的单链表中每一器件执行相应的测试,记录测试结果并将测试结果向主控发送。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)