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1. (WO2016061322) TESTING STYLUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/061322    International Application No.:    PCT/US2015/055692
Publication Date: 21.04.2016 International Filing Date: 15.10.2015
IPC:
G06F 3/041 (2006.01), G06F 3/03 (2006.01)
Applicants: ANTHROTRONIX, INC. [US/US]; 8737 Colesville Road Suite L203 Silver Spring, MD 20910 (US)
Inventors: VICE, Jack, M.; (US).
LATHAN, Corinna, E.; (US).
DRANE, James, F.; (US).
RIGHTMYER, Joli, K.; (US)
Agent: LIEBERMAN, Rochelle; (US)
Priority Data:
62/064,705 16.10.2014 US
Title (EN) TESTING STYLUS
(FR) STYLET DE TEST
Abstract: front page image
(EN)Embodiments of the invention relate to a calibration device for interaction with a cognitive assessment device, employing the calibration device as a quality control device for interaction with the assessment device, and the calibration device in combination with the assessment device for every assessment. The calibration device includes at least two sensors for measurement of light and pressure. As the calibration device interfaces with the assessment device, or an alternative secondary device, both light intensity and capacitance are applied to test reaction time. Latencies associated with reaction time testing are detected, and thereafter are applied to assessment output.
(FR)Des modes de réalisation de la présente invention se rapportent à un dispositif d'étalonnage pour une interaction avec un dispositif d'évaluation cognitive, utilisant le dispositif d'étalonnage comme dispositif de contrôle de qualité pour l'interaction avec le dispositif d'évaluation, et au dispositif d'étalonnage en association avec le dispositif d'évaluation pour chaque évaluation. Le dispositif d'étalonnage comprend au moins deux capteurs pour la mesure de la lumière et de la pression. Tandis que le dispositif d'étalonnage assure l'interface avec le dispositif d'évaluation, ou un autre dispositif secondaire, une intensité de lumineuse et une capacité sont toutes deux appliquées pour tester le temps de réaction. Les temps d'attente associés au test de temps de réaction sont détectées, puis sont appliqués à la sortie d'évaluation.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)