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1. (WO2016061057) CESIUM PRIMARY ION SOURCE FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/061057    International Application No.:    PCT/US2015/055261
Publication Date: 21.04.2016 International Filing Date: 13.10.2015
IPC:
H03L 7/26 (2006.01), H01S 1/00 (2006.01), G04F 5/14 (2006.01), H05H 3/00 (2006.01), H05H 3/02 (2006.01)
Applicants: ARIZONA BOARD OF REGENTS, A BODY CORPORATE OF THE STATE OF ARIZONA, ACTING FOR AND ON BEHALF OF ARIZONA STATE UNIVERSITY [US/US]; 1475 North Scottsdale Road SkySong - Suite 200 Scottsdale, Arizona 85257 (US)
Inventors: WILLIAMS, Peter; (US).
WILLIAMS, Karen, Amanda; (US).
BOSE, Maitrayee; (US).
PRINCE, John; (US)
Agent: GUSTAFSON, Vincent, K.; (US)
Priority Data:
62/063,023 13.10.2014 US
Title (EN) CESIUM PRIMARY ION SOURCE FOR SECONDARY ION MASS SPECTROMETER
(FR) SOURCE PRIMAIRE D'IONS CÉSIUM POUR SPECTROMÈTRE DE MASSE D'IONS SECONDAIRES
Abstract: front page image
(EN)A primary ion source subassembly for use with a secondary ion mass spectrometer may include a unitary graphite ionizer tube and reservoir base. A primary ion source may include a capillary insert defining an ionizer aperture. An ionizer aperture may be centrally arranged in an outwardly protruding conical or frustoconical surface, and may be overlaid with a refractory metal coating or sheath. Parameters including ionizer surface shape, ionizer materials, ionizer temperature, and beam stop plate orifice geometry may be manipulated to eliminate ghost images. A graphite tube gasket with a dual tapered surface may promote sealing of a source material cavity.
(FR)La présente invention concerne un sous-ensemble de source primaire d'ions destiné à être utilisé avec un spectromètre de masse d'ions secondaires pouvant comprendre un tube ioniseur unitaire en graphite et une base réservoir. Une source primaire d'ions peut comprendre un insert capillaire délimitant une ouverture d'ioniseur. Une ouverture d'ioniseur peut être disposée de manière centrale dans une surface conique ou tronconique faisant saillie vers l'extérieur, et peut être recouverte d'un revêtement ou d'une gaine métallique réfractaire. Des paramètres comprenant la forme de la surface de l'ioniseur, les matériaux de l'ioniseur, la température de l'ioniseur, et la géométrie de l'orifice de la plaque d'arrêt de faisceau peuvent être manipulés afin d'éliminer les images fantômes. Un joint de tube en graphite à double surface conique peut favoriser l'étanchéité d'une cavité de matériau source.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)