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1. (WO2016058289) MDS ERASURE CODE CAPABLE OF REPAIRING MULTIPLE NODE FAILURES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/058289    International Application No.:    PCT/CN2015/071114
Publication Date: 21.04.2016 International Filing Date: 20.01.2015
IPC:
G06F 11/10 (2006.01)
Applicants: PEKING UNIVERSITY SHENZHEN GRADUATE SCHOOL [CN/CN]; Peking University campus, Shenzhen University Town, Lishui Road, Xili Town, Nanshan Shenzhen, Guangdong 518055 (CN).
SHENZHEN CESTBON TECHNOLOGY CO. LIMITED [CN/CN]; 1C-18B,1st Period, De Yi Ming Ju, Dong Wu Yuan Road, Nanshan Shenzhen, Guangdong 518000 (CN)
Inventors: LI, Hui; (CN).
HOU, Hanxu; (CN).
SHUN, Kenneth W.; (CN).
HUANG, Zhihao; (CN)
Agent: SHENZHEN KINDWALF INTELLECTUAL PROPERTY FIRM; Room 402,Building A, Shennan Garden,Shennan West Road, Nanshan Shenzhen, Guangdong 518057 (CN)
Priority Data:
Title (EN) MDS ERASURE CODE CAPABLE OF REPAIRING MULTIPLE NODE FAILURES
(FR) CODE D'EFFACEMENT MDS PERMETTANT DE RÉPARER PLUSIEURS NŒUD EN PANNE
(ZH) 一种能修复多个节点失效的MDS纠删码
Abstract: front page image
(EN)An MDS erasure code capable of repairing multiple node failures that is a C(k, r, p) code and stores original information data blocks and check data block by establishing a (p-1)*(k+r) matrix, p being a prime number, p being greater than k and r, k being an integer between 2 and p, r being less than or equal to 5; the addition calculations and subtraction calculations of the C(k, r, p) code are replaced with XOR calculations; the original data block is divided into k columns of original information data blocks, each column containing p-1 bits; the k columns of original information data blocks generate r columns of linearly independent check data blocks, and the transformed original information data blocks and check data blocks are linearly independent. The method has the following advantages: substantial enhancement to system fault tolerance; low calculation complexity and small calculation cost; substantial reduction of system calculation delay, time and resources conservation, lowered cost consumption and suitability to actual storage system.
(FR)L'invention concerne un code d'effacement MDS permettant de réparer plusieurs nœud en panne, lequel code est C (k,r,p) et mémorise le bloc de données initiales et le bloc de données de vérification moyennant la formation d'une matrice (p-1)*(k+r), p désignant un nombre premier et étant supérieur à k et r, k extrayant n'importe quel nombre entier entre 2 p, r étant inférieur ou égal à 5. L'opération d'addition et de soustraction du code C(k,r,p) est substituée par l'opération à fonction OU. Le bloc de données initiales est divisé en k colonnes de blocs de données d'informations initiales, chaque colonne comprenant p-1 bit, k colonnes de blocs de données d'informations initiales générant r colonnes de blocs de données de vérification linéairement indépendants. Une fois modifiés, les blocs de données d'informations initiales et de données de vérification sont linéairement indépendants. Avantages : optimisation de la tolérance aux pannes du système, simplification du calcul, faible durée de calcul, réduction sensible du retard du système lors du calcul, économie de temps et de ressources, consommation réduite lors de la fabrication et adaptation aux systèmes de stockage réels.
(ZH)一种能修复多个节点失效的MDS纠删码,为C(k,r,p)码,其通过构建一个(p-1)*(k+r)的矩阵来存储原始信息数据块和校验数据块,其中p为质数,p比k和r都大,k可取2到p之间的任意整数,r小于等于5;C(k,r,p)码的加法运算和减法运算均通过异或运算代替;将原始数据块分成k列原始信息数据块,每列包含p-1个bit,k列原始信息数据块生成r列线性独立的校验数据块,变动后的原始信息数据块和校验数据块是线性独立。该方法的有益效果是:大大提升系统的容错能力;同时计算复杂度很低、计算开销很小,很大程度上降低了系统计算时延,节省时间和资源,能减少成本的消耗,适合实际的存储系统。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)