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1. (WO2016057303) FORCE DETECTION FOR MICROSCOPY BASED ON DIRECT TIP TRAJECTORY OBSERVATION
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/057303    International Application No.:    PCT/US2015/053453
Publication Date: 14.04.2016 International Filing Date: 01.10.2015
IPC:
G01Q 20/02 (2010.01), G01Q 30/04 (2010.01)
Applicants: THE CURATORS OF THE UNIVERSITY OF MISSOURI [US/US]; 316 University Hall Columbia, Missouri 65211 (US)
Inventors: KING, Gavin McLean; (US).
SIGDEL, Krishna Prasad; (US)
Agent: VOLK, JR., Benjamin, L.; (US)
Priority Data:
62/060,274 06.10.2014 US
Title (EN) FORCE DETECTION FOR MICROSCOPY BASED ON DIRECT TIP TRAJECTORY OBSERVATION
(FR) DÉTECTION DE FORCE POUR MICROSCOPIE À BASE D'OBSERVATION DIRECTE DE TRAJECTOIRE DE POINTE
Abstract: front page image
(EN)With example embodiments described herein, a probe tip of a scanning probe microscope (such as an atomic force microscope (AFM)) is directly detected as it moves in a tapping mode to determine the tip positions over time, and a force for the tip is computed from these determined tip positions.
(FR)Des modes de réalisation donnés à titre d'exemple concernent une pointe de sonde d'un microscope-sonde à balayage (tel qu'un microscope à force atomique (AFM)) qui est directement détectée au fur et à mesure qu'elle se déplace dans un mode à contact périodique pour déterminer les positions de la pointe au fil du temps, et une force pour la pointe est calculée à partir de ces positions de pointe déterminées.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)