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1. (WO2016057226) ELECTRICAL TEST SYSTEM WITH VISION-GUIDED ALIGNMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/057226    International Application No.:    PCT/US2015/051838
Publication Date: 14.04.2016 International Filing Date: 24.09.2015
IPC:
G01R 31/28 (2006.01), H05K 1/02 (2006.01)
Applicants: EASTMAN KODAK COMPANY [US/US]; 343 State Street Rochester, NY 14650-2201 (US)
Inventors: ZEISE, Eric, K.; (US).
LEBLANC, Thomas, A.; (US).
O'CONNOR, Kevin, Michael; (US)
Priority Data:
14/509,272 08.10.2014 US
Title (EN) ELECTRICAL TEST SYSTEM WITH VISION-GUIDED ALIGNMENT
(FR) SYSTÈME D'ESSAI ÉLECTRIQUE AVEC ALIGNEMENT GUIDÉ PAR VISION
Abstract: front page image
(EN)An electrical testing system is adapted to perform electrical tests on devices fabricated on successive frames of a web of substrate, each frame including a plurality of fiducial marks. A digital imaging system captures a digital image of a frame, which is analyzed to determine spatial relationships between positions of a set of test pads and positions of the fiducial marks. The frame is advanced to an electrical test fixture which includes a set of test probes adapted to make electrical contact with the test pads. A fiducial sensing system including a plurality of fiducial sensors determines positions of the fiducial marks. The position of the electrical test fixture is adjusted responsive to the determined spatial relationships and the determined fiducial mark positions so that the test probes are aligned with corresponding test pads, and an electrical test of the device is performed.
(FR)La présente invention concerne un système d'essai électrique qui est adapté pour réaliser des essais électriques sur des dispositifs fabriqués sur des cadres successifs d'une bande de substrat, chaque cadre comprenant une pluralité de marques de repère. Un système d'imagerie numérique capture une image numérique d'un cadre, qui est analysée pour déterminer des relations spatiales entre des positions d'un jeu de plages d'essai et des positions des marques de repère. Le cadre est avancé vers un dispositif d'essai électrique qui comprend un jeu de sondes d'essai adaptées pour réaliser un contact électrique avec les plages d'essai. Un système de détection de repère qui comprend une pluralité de capteurs de repère détermine des positions des marques de repère. La position du dispositif d'essai électrique est ajustée en réponse aux relations spatiales déterminées et aux positions de marques de repère déterminées pour que les sondes d'essai soient alignés avec des plages d'essai, et qu'un essai électrique du dispositif soit réalisé.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)