WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2016056522) OPTICAL RESPONSE MEASURING DEVICE AND OPTICAL RESPONSE MEASURING METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/056522    International Application No.:    PCT/JP2015/078254
Publication Date: 14.04.2016 International Filing Date: 05.10.2015
IPC:
G01N 21/17 (2006.01), G01N 21/3581 (2014.01), G02F 1/37 (2006.01)
Applicants: RIKEN [JP/JP]; 2-1, Hirosawa, Wako-shi Saitama 3510198 (JP)
Inventors: NAWATA, Kouji; (JP).
MINAMIDE, Hiroaki; (JP).
FAN, Shuzhen; (JP).
Qi, Feng; (JP).
ITO, Hiromasa; (JP)
Agent: OKAMOTO, Masayuki; (JP)
Priority Data:
2014-207559 08.10.2014 JP
Title (EN) OPTICAL RESPONSE MEASURING DEVICE AND OPTICAL RESPONSE MEASURING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE RÉPONSE OPTIQUE ET PROCÉDÉ DE MESURE DE RÉPONSE OPTIQUE
(JA) 光応答計測装置および光応答計測方法
Abstract: front page image
(EN) This optical response measuring device 100 of a certain embodiment is provided with a light source 122, first and second wavelength conversion elements 126, 164, and a light intensity sensor array 168. The light source generates a light pair that includes light of first and second wavelengths, and the first wavelength conversion element generates measurement light LM of a measurement wavelength maintained at a given phase in relation to the impinging light pair LP. Detection light from the measurement light irradiating a measured object 50 impinges on the second wavelength conversion element. From reference light LR that preserves the phase of the light pair, and light for which the phase of the detection light LS is to be determined, the second wavelength conversion element generates modulated reference light LD. In the modulated reference light, first partial intensity and second partial intensity in accordance with the first phase and the second phase of detection light reflecting response in a first irradiation region and a second irradiation region included in the irradiation range are modulated. The first partial intensity and second partial intensity are measured by the light intensity sensor array 168.
(FR) Un dispositif de mesure de réponse optique (100) d'un certain mode de réalisation comprend une source de lumière (122), des premier et second éléments de conversion de longueur d'onde (126), (164), et un réseau de capteurs d'intensité de lumière (168). La source de lumière génère une paire de lumières qui comprennent la lumière des première et seconde longueurs d'onde, et le premier élément de conversion de longueur d'onde génère une lumière de mesure LM d'une longueur d'onde de mesure maintenue à une phase donnée par rapport à la paire de lumières incidentes LP. La lumière de détection provenant de la lumière de mesure émise sur un objet mesuré (50) est incidente sur le second élément de conversion de longueur d'onde. À partir d'une lumière de référence LR qui préserve la phase de la paire de lumières, et de la lumière pour laquelle la phase de la lumière de détection LS doit être déterminée, le second élément de conversion de longueur d'onde génère une lumière de référence modulée LD. Dans la lumière de référence modulée, une première intensité partielle et une seconde intensité partielle selon la première phase et la seconde phase de réponse de réflexion de lumière de détection dans une première région d'exposition à la lumière et une seconde région d'exposition à la lumière comprises dans la plage d'irradiation sont modulées. La première intensité partielle et la seconde intensité partielle sont mesurées par le réseau de capteurs d'intensité de lumière (168).
(JA) 本発明のある態様の光応答計測装置100は、光源122、第1および第2波長変換素子126、164、および光強度センサーアレイ168を備えている。光源は第1および第2波長の光をもつ光の対を生成し、第1波長変換素子は入射した光の対LPとの間での位相が維持された計測波長の計測光LMを生成する。計測光は測定対象物50に照射され検出光が、第2波長変換素子に入射される。第2波長変換素子は、光の対の位相を引き継いでいる参照光LRと検出光LSの位相が決定されるべき光から変調済み参照光LDを生成する。変調済み参照光は、照射範囲に含まれる第1照射部位と第2照射部位とにおける応答を反映する検出光の第1位相および第2位相に応じ第1の部分的強度および第2の部分的強度が変調されている。この第1の部分的強度および第2の部分的強度は光強度センサーアレイ168で測定される。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)