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1. (WO2016053720) IN-DIE TRANSISTOR CHARACTERIZATION IN AN IC
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/053720    International Application No.:    PCT/US2015/051788
Publication Date: 07.04.2016 International Filing Date: 23.09.2015
IPC:
G01R 31/28 (2006.01), G01R 31/3167 (2006.01)
Applicants: XILINX, INC. [US/US]; Attn: Legal Dept. 2100 Logic Drive San Jose, CA 95124 (US)
Inventors: YEH, Ping-Chin; (US).
JENNINGS, John, K.; (US).
NATHANAEL, Rhesa; (US).
CHONG, Nui; (US).
CHANG, Cheng-Whang; (US).
CHUNG, Daniel, Y.; (US)
Agent: PARANDOOSH, David, A.; (US)
Priority Data:
14/505,240 02.10.2014 US
Title (EN) IN-DIE TRANSISTOR CHARACTERIZATION IN AN IC
(FR) CARACTÉRISATION DE TRANSISTOR À PUCE DANS UN CIRCUIT INTÉGRÉ
Abstract: front page image
(EN)In an example implementation, an integrated circuit (IC) (102) includes: a plurality of transistors (122) disposed in a plurality of locations (120) on a die of the IC; conductors (124) coupled to terminals of each of the plurality of transistors; a digital-to-analog converter (DAC) (108), coupled to the conductors, to drive voltage signals to the plurality of transistors in response to a digital input; and an analog-to-digital converter (ADC) (110), coupled to at least a portion of the conductors, to generate samples in response to current signals induced in the plurality of transistors in response to the voltage signals, the samples being indicative of at least one electrostatic characteristic for the plurality of transistors.
(FR)L'invention concerne, selon un mode de réalisation donné à titre d'exemple, un circuit intégré (IC) (102) comprenant : une pluralité de transistors (122) disposés dans une pluralité d'emplacements (120) sur une puce du circuit intégré ; des conducteurs (124) couplés à des bornes de chacun de la pluralité de transistors ; un convertisseur numérique-analogique (CNA) (108), couplé aux conducteurs, servant à acheminer des signaux de tension jusqu'à la pluralité de transistors en réponse à une entrée numérique ; et un convertisseur analogique-numérique (CAN) (110), couplé à au moins une partie des conducteurs, pour générer des échantillons en réponse à des signaux de courant induits dans la pluralité de transistors en réponse aux signaux de tension, les échantillons indiquant au moins une caractéristique électrostatique pour la pluralité de transistors.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)