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1. (WO2016050871) METHOD FOR CHARACTERIZING THE CRACKING MECHANISM OF A MATERIAL FROM THE FRACTURE SURFACE THEREOF
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2016/050871    International Application No.:    PCT/EP2015/072611
Publication Date: 07.04.2016 International Filing Date: 30.09.2015
IPC:
G01N 3/06 (2006.01)
Applicants: UNIVERSITE PIERRE ET MARIE CURIE (PARIS 6) [FR/FR]; 4 place Jussieu F-75005 Paris (FR).
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE [FR/FR]; 3 rue Michel-Ange F-75016 Paris (FR).
VERNEDE, Stéphane [FR/CN]; (CN)
Inventors: VERNEDE, Stéphane; (CN).
PONSON, Laurent; (FR)
Agent: PONTET ALLANO & ASSOCIES; Parc Les Algorithmes, Bâtiment Platon CS 70003 Saint-Aubin 91192 Gif-sur-Yvette cedex (FR)
Priority Data:
1459525 03.10.2014 FR
Title (EN) METHOD FOR CHARACTERIZING THE CRACKING MECHANISM OF A MATERIAL FROM THE FRACTURE SURFACE THEREOF
(FR) PROCÉDÉ DE CARACTÉRISATION DU MÉCANISME DE FISSURATION D'UN MATERIAU À PARTIR DE SA SURFACE DE RUPTURE
Abstract: front page image
(EN)The invention relates to the field of materials characterization, and specifically, to the field of fractographic analysis of the failure of a structure from at least one the fracture surfaces thereof. The invention particularly applies to determining a characteristic length of the damage processes involved in the structural cracking. The method according to the invention comprises, from a topographic map showing, for a set of points {x} located in a midplane of the fracture surface, a height of the fracture surface h(x) relative to the midplane: a step (12) of determining, for each point x on the topographic map, a quantity ωε (x) representative of an average difference in height (δh(x, δx))ΙδxΙ≤ε between the height h(x) of the fracture surface at point x in question and the height h(x + δx) of the fracture surface at one or more points {x + δx} located inside a circle of radius ε centered on point x in question, a step (13) of determining, according to a test distance δr, a spatial correlation function (δr) representing a spatial correlation between points {x} and points {x + δx} such as ΙδxΙ = δr, and a step (14) of determining a correlation length ξ from the spatial correlation function (δr).
(FR)L'invention se situe dans le domaine de la caractérisation des matériaux et, plus particulièrement, dans le domaine de l'analyse fractographique de la rupture d'une structure à partir d'au moins une de ses surfaces de rupture. Elle s'applique notamment à la détermination d'une longueur caractéristique des processus d'endommagement mis en jeu au cours de la fissuration de la structure. Le procédé selon l'invention comprend, à partir d'une carte topographique représentant, pour un ensemble de points {x} situés dans un plan moyen de la surface de rupture, une hauteur h(x) de la surface de rupture par rapport au plan moyen : une étape (12) de détermination, pour chaque point x de la carte topographique, d'une grandeur ωε (x) représentative d'une différence moyenne de hauteur (δh(x, δx))ΙδxΙ≤ε entre, d'une part, la hauteur h(x) de la surface de rupture au point x considéré et, d'autre part, la hauteur h(x + δx) de la surface de rupture en un ou plusieurs points {x + δx} situés à l'intérieur d'un cercle de rayon ε centré sur le point x considéré, une étape (13) de détermination, en fonction d'une distance de test δr, d'une fonction de corrélation spatiale (δr) représentative d'une corrélation spatiale entre les points {x} et les points {x + δx} tels que ΙδxΙ = δr, et une étape (14) de détermination d'une longueur de corrélation ξ à partir de la fonction de corrélation spatiale (δr).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)