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1. (WO2015157520) AUTOFOCUS SYSTEM
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Pub. No.: WO/2015/157520 International Application No.: PCT/US2015/025113
Publication Date: 15.10.2015 International Filing Date: 09.04.2015
IPC:
G02B 7/28 (2006.01) ,G02B 21/00 (2006.01) ,G01J 3/00 (2006.01) ,G02B 21/26 (2006.01)
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
7
Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
28
Systems for automatic generation of focusing signals
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21
Microscopes
G PHYSICS
01
MEASURING; TESTING
J
MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3
Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
G PHYSICS
02
OPTICS
B
OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21
Microscopes
24
Base structure
26
Stages; Adjusting means therefor
Applicants:
THORLABS, INC. [US/US]; 56 Sparta Avenue Newton, New Jersey 07860, US
Inventors:
CABLE, Alex Ezra; US
BROOKER, Jeffrey S.; US
Agent:
WOLIN, Harris A.; US
Priority Data:
61/978,08710.04.2014US
62/006,97203.06.2014US
Title (EN) AUTOFOCUS SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE MISE AU POINT AUTOMATIQUE
Abstract:
(EN) An autofocus apparatus is capable of detecting the position of a sample on a microscope. The sample may consist of a specimen mounted between a microscope slide and coverslip or specimens within a well plate. The device tracks the position of a sample by identifying refractive index boundaries through Fresnel reflections. A change in refractive index can correspond to the top and bottom of a coverslip, the top of a slide, the bottom of a well plate or the bottom of a well within a well plate. Using optical coherence tomography (OCT) these reflections are used to form a depth scan of the sample which gives the positions of these surfaces relative to the objective. The device functions as an autofocus system by compensating for any variation of the position of the sample from the focal plane of the objective.
(FR) L’invention concerne un appareil de mise au point automatique qui est capable de détecter la position d’un échantillon sur un microscope. L’échantillon peut consister en un spécimen monté entre une lame de microscope et une lamelle couvre-objet, ou en des spécimens à l’intérieur d’une plaque à puits. Le dispositif suit la position d’un échantillon par identification des frontières d’indice de réfraction par l’intermédiaire de réflexion de Fresnel. Un changement dans l’indice de réfraction peut correspondre à la partie supérieure ou à la partie inférieure de la lamelle couvre-objet, la partie supérieure d’une lame, la partie inférieure d’une plaque à puits ou le fond d’un puits à l’intérieur d’une plaque à puits. En utilisant une tomographie par cohérence optique (OCT), ces réflexions sont utilisées pour former un balayage de profondeur de l’échantillon, qui donne les positions de ces surfaces par rapport à l’objectif. Le dispositif sert de système de mise au point automatique par compensation d’une quelconque variation de la position de l’échantillon par rapport au plan focal de l’objectif.
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Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)