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1. WO2015131613 - METHOD AND DEVICE FOR DETECTING RANDOM-ACCESS MEMORY (RAM) MALFUNCTION

Publication Number WO/2015/131613
Publication Date 11.09.2015
International Application No. PCT/CN2014/094143
International Filing Date 17.12.2014
IPC
G11C 29/04 2006.1
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation; Testing stores during standby or offline operation
04Detection or location of defective memory elements
CPC
G11C 11/401
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
11Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
21using electric elements
34using semiconductor devices
40using transistors
401forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
G11C 29/04
GPHYSICS
11INFORMATION STORAGE
CSTATIC STORES
29Checking stores for correct operation ; ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
04Detection or location of defective memory elements ; , e.g. cell constructio details, timing of test signals
Applicants
  • 中兴通讯股份有限公司 ZTE CORPORATION [CN]/[CN]
Inventors
  • 王媛媛 WANG, Yuanyuan
  • 郝涛 HAO, Tao
Agents
  • 北京康信知识产权代理有限责任公司 KANGXIN PARTNERS, P.C.
Priority Data
201410495434.324.09.2014CN
Publication Language Chinese (zh)
Filing Language Chinese (ZH)
Designated States
Title
(EN) METHOD AND DEVICE FOR DETECTING RANDOM-ACCESS MEMORY (RAM) MALFUNCTION
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DYSFONCTIONNEMENT DE MÉMOIRE VIVE (RAM)
(ZH) 随机存取存储器RAM的故障检测方法及装置
Abstract
(EN) Provided are a method and device for detecting a random-access memory (RAM) malfunction. The method comprises: a testing device transmits a first testing cell on the link where the RAM to be tested is; the testing device receives a second testing cell obtained after the first testing cell passes through the link; the testing device compares a first testing data in the first testing cell to a second testing data in the second testing cell and determines whether the two are consistent; the testing device determines whether all the RAMs to be tested on the link have a malfunction according to the comparison result. The technical solutions of the embodiments of the present invention solve the problem in the prior art of the lack of simple and effective technical solution, for a router within a cluster environment, for detecting whether a RAM has a malfunction. By sending testing cells, the present invention can test in bulk for malfunctions of a RAM on a switch chip of a large router, thereby substantially enhancing RAM malfunction troubleshooting efficiency.
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif de détection d'une dysfonctionnement d'une mémoire vive (RAM). Le procédé comprend les étapes suivantes : un dispositif de test transmet une première cellule de test sur la liaison où se trouve la RAM à tester ; le dispositif de test reçoit une seconde cellule de test obtenue après passage de la première cellule de test à travers la liaison ; le dispositif de test compare une première donnée de test dans la première cellule de test à une seconde donnée de test dans la seconde cellule de test et détermine si les deux sont conformes ; le dispositif de test détermine si toutes les RAM à tester sur la liaison présentent un dysfonctionnement selon le résultat de la comparaison. Les solutions techniques des modes de réalisation de la présente invention résolvent le problème dans l'état de la technique de l'absence de solution technique simple et efficace, pour un routeur dans un environnement de groupe, pour détecter si une RAM présente un dysfonctionnement. En envoyant des cellules de test, la présente invention peut tester en vrac les dysfonctionnements d'une RAM sur une puce de commutateur d'un gros routeur, améliorant sensiblement l'efficacité de recherche de problèmes de dysfonctionnement de RAM.
(ZH) 本发明提供了一种随机存取存储器RAM的故障检测方法及装置,其中,所述方法包括:测试端设备在待检测RAM所在的链路上发送第一测试信元;测试端设备接收在第一测试信元流经所述链路后得到的第二测试信元;测试端设备比较第一测试信元内的第一测试数据和第二测试信元内的第二测试数据是否一致;测试端设备根据比较结果判断链路上的所有待检测RAM是否发生故障。采用本发明实施例提供的上述技术方案,解决了相关技术中在集群环境的路由器上,尚未提出一种简单有效的技术方案来检测RAM是否发生故障的问题,可以用发送测试信元的方式对大型路由器上的交换芯片的RAM故障进行批量检测,大大提高了RAM故障排查效率。
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