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1. (WO2015126609) TESTING POWERLINE COMMUNICATION DEVICES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/126609    International Application No.:    PCT/US2015/014163
Publication Date: 27.08.2015 International Filing Date: 03.02.2015
Chapter 2 Demand Filed:    22.12.2015    
IPC:
H04B 3/54 (2006.01)
Applicants: QUALCOMM INCORPORATED [US/US]; ATTN: International IP Administration 5775 Morehouse Drive San Diego, California 92121-1714 (US)
Inventors: MORENO, Francisco Javier; (US).
RAJKOTIA, Purva Rameshchandra; (US)
Agent: LEWIN, Mario J.; (US).
GUERRA, John F. Jr.; (US)
Priority Data:
61/943,872 24.02.2014 US
14/611,536 02.02.2015 US
Title (EN) TESTING POWERLINE COMMUNICATION DEVICES
(FR) TESTS DE DISPOSITIFS À COURANTS PORTEURS EN LIGNE
Abstract: front page image
(EN)Testing procedures and associated messaging can be performed via powerline communication (PLC) medium. A first device can test a second device using management messages via the PLC medium. For example, the first device may transmit a test setup request message including at least one test parameter to the second device via the PLC medium. The first device may conduct a test of the second device in accordance with the at least one test parameter. The first device may determine a first performance metric associated with the test. The first performance metric can describe at least one of a PLC interface of the second device and the PLC medium between the first device and the second device. Test results can be translated to a common format for comparison to traditional tests which may be based on Ethernet performance metrics.
(FR)L'invention a pour but de mettre en œuvre des procédures de tests et une messagerie associée via un support de courants porteurs en ligne (CPL). Un premier dispositif peut tester un deuxième dispositif en utilisant des messages de gestion via le support de CPL. Par exemple, le premier dispositif peut envoyer un message de demande d'établissement de tests comprenant au moins un paramètre de test au deuxième dispositif via le support de CPL. Le premier dispositif peut procéder à un test du deuxième dispositif selon le ou les paramètres de test. Le premier dispositif peut déterminer une première métrique de performances associée au test. La première métrique de performances peut décrire au moins un élément parmi une interface de CPL du deuxième dispositif et le support de CPL entre le premier dispositif et le deuxième dispositif. Les résultats de tests peuvent être traduits vers un format commun en vue d'une comparaison à des tests traditionnels qui peuvent être basés sur des métriques de performances Ethernet.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)