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Pub. No.:    WO/2015/125918    International Application No.:    PCT/JP2015/054786
Publication Date: 27.08.2015 International Filing Date: 20.02.2015
G01N 15/14 (2006.01)
Applicants: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KAGAWA UNIVERSITY [JP/JP]; 1-1, Saiwai-cho, Takamatsu-shi, Kagawa 7608521 (JP)
Inventors: ISHIMARU, Ichiro; (JP)
Agent: KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
Priority Data:
2014-033242 24.02.2014 JP
(JA) 微小粒子測定装置
Abstract: front page image
(EN)The present invention addresses the problem of providing a microparticle measurement device which is capable of measuring an optical characteristic of a plurality of microparticles simultaneously and quickly. In this microparticle measurement device, a sample flows through flow channels of a multi flow channel (14), and light irradiates a prescribed linear region. Then, measurement light (object light), such as scattered light or fluorescent light, generated from microparticles in the sample is collimated by an objective lens (16) and is transmitted by a first transmitting part (181) and a second transmitting part (182). The light transmitted by both transmitting parts is collected on the same straight line by a cylindrical lens (20) as first measurement light and second measurement light respectively, and the interference light intensity of the first and second measurement light is detected by a detector (22). Meanwhile, light which is from a light source and has been transmitted by the multi flow channel (22) without coming into contact with the microparticles in the sample is incident on a non-transmitting part (30) via the objective lens (16) and does not approach the cylindrical lens. Consequently, only the interference light of the measurement light is incident on the detector (22), and therefore the interference light intensity of the measurement light can be measured accurately.
(FR)La présente invention aborde le problème consistant à fournir un dispositif de mesure de microparticules qui peut mesurer une caractéristique optique d'une pluralité de microparticules simultanément et rapidement. Dans ledit dispositif de mesure de microparticules, un échantillon s'écoule dans des canaux d'écoulement d'un canal (14) multi-écoulement et une lumière est émise sur une région linéaire prescrite. Ensuite, la lumière de mesure (lumière d'objet), telle qu'une lumière diffusée ou une lumière fluorescente, générée à partir des microparticules dans l'échantillon est collimatée par une lentille d'objectif (16) et est transmise par une première partie de transmission (181) et par une seconde partie de transmission (182). La lumière transmisse par les deux parties de transmission est collectée sur la même ligne droite par une lentille cylindrique (20) en tant que première lumière de mesure et seconde lumière de mesure respectivement et l'intensité de l'interférence lumineuse de la première et de la seconde lumière de mesure est détectée par un détecteur (22). Pendant ce temps, la lumière qui provient d'une source de lumière et qui a été transmise par le canal (22) multi-écoulement sans entrer en contact avec les microparticules dans l'échantillon est incidente sur une partie de non-transmission (30) par l'intermédiaire de lentille d'objectif (16) et ne s'approche pas de la lentille cylindrique. Par conséquent, seule l'interférence lumineuse de la lumière de mesure est incidente sur le détecteur (22) et l'intensité de l'interférence lumineuse peut donc être mesurée précisément.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)