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Pub. No.: WO/2015/125918 International Application No.: PCT/JP2015/054786
Publication Date: 27.08.2015 International Filing Date: 20.02.2015
G01N 15/14 (2006.01)
Applicants: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION KAGAWA UNIVERSITY[JP/JP]; 1-1, Saiwai-cho, Takamatsu-shi, Kagawa 7608521, JP
Inventors: ISHIMARU, Ichiro; JP
Agent: KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091, JP
Priority Data:
(JA) 微小粒子測定装置
Abstract: front page image
(EN) The present invention addresses the problem of providing a microparticle measurement device which is capable of measuring an optical characteristic of a plurality of microparticles simultaneously and quickly. In this microparticle measurement device, a sample flows through flow channels of a multi flow channel (14), and light irradiates a prescribed linear region. Then, measurement light (object light), such as scattered light or fluorescent light, generated from microparticles in the sample is collimated by an objective lens (16) and is transmitted by a first transmitting part (181) and a second transmitting part (182). The light transmitted by both transmitting parts is collected on the same straight line by a cylindrical lens (20) as first measurement light and second measurement light respectively, and the interference light intensity of the first and second measurement light is detected by a detector (22). Meanwhile, light which is from a light source and has been transmitted by the multi flow channel (22) without coming into contact with the microparticles in the sample is incident on a non-transmitting part (30) via the objective lens (16) and does not approach the cylindrical lens. Consequently, only the interference light of the measurement light is incident on the detector (22), and therefore the interference light intensity of the measurement light can be measured accurately.
(FR) La présente invention aborde le problème consistant à fournir un dispositif de mesure de microparticules qui peut mesurer une caractéristique optique d'une pluralité de microparticules simultanément et rapidement. Dans ledit dispositif de mesure de microparticules, un échantillon s'écoule dans des canaux d'écoulement d'un canal (14) multi-écoulement et une lumière est émise sur une région linéaire prescrite. Ensuite, la lumière de mesure (lumière d'objet), telle qu'une lumière diffusée ou une lumière fluorescente, générée à partir des microparticules dans l'échantillon est collimatée par une lentille d'objectif (16) et est transmise par une première partie de transmission (181) et par une seconde partie de transmission (182). La lumière transmisse par les deux parties de transmission est collectée sur la même ligne droite par une lentille cylindrique (20) en tant que première lumière de mesure et seconde lumière de mesure respectivement et l'intensité de l'interférence lumineuse de la première et de la seconde lumière de mesure est détectée par un détecteur (22). Pendant ce temps, la lumière qui provient d'une source de lumière et qui a été transmise par le canal (22) multi-écoulement sans entrer en contact avec les microparticules dans l'échantillon est incidente sur une partie de non-transmission (30) par l'intermédiaire de lentille d'objectif (16) et ne s'approche pas de la lentille cylindrique. Par conséquent, seule l'interférence lumineuse de la lumière de mesure est incidente sur le détecteur (22) et l'intensité de l'interférence lumineuse peut donc être mesurée précisément.
(JA) 本発明の課題は、複数の微小粒子の光学的特性を同時に且つ高速で測定することができる微小粒子測定装置を提供することである。本発明の微小粒子測定装置では、マルチ流路(14)の各流路に試料を流し、所定の直線領域に光を照射する。このとき、試料中の微小粒子から発する散乱光や蛍光等の測定光(物体光)は対物レンズ(16)によって平行光線化され、第1透過部(181)と第2透過部(182)を透過する。両者を透過した光はそれぞれ第1測定光と第2測定光としてシリンドリカルレンズ(20)によって同一直線上に集光され、その干渉光強度が検出器(22)で検出される。一方、試料中の微小粒子に当たることなくマルチ流路(22)を透過した光源からの光は、対物レンズ(16)を経て非透過部(30)に入射し、シリンドリカルレンズに向かうことはない。従って、検出器(22)には、測定光の干渉光のみが入射するため、精度良く測定光の干渉光強度を測定することができる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)