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Pub. No.:    WO/2015/125311    International Application No.:    PCT/JP2014/054386
Publication Date: 27.08.2015 International Filing Date: 24.02.2014
G01N 21/27 (2006.01), G01N 21/65 (2006.01)
Applicants: OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 2951 Ishikawa-machi, Hachioji-shi, Tokyo 1928507 (JP)
Inventors: SATO, Akira; (JP).
TAKIMOTO, Shinichi; (JP)
Agent: UEDA, Kunio; 37F The Landmark Tower Yokohama, 2-2-1, Minatomirai, Nishi-ku, Yokohama-shi, Kanagawa 2208137 (JP)
Priority Data:
(JA) 分光測定方法
Abstract: front page image
(EN)This spectroscopic measurement method comprises the following steps: a measurement step (S1) in which the spectra of a specified subset of a plurality of sections of a specimen are measured; a scalar computation step (S2) in which, for each measured section, a scalar that represents information contained in the obtained spectrum is computed; an interpolation step (S3) in which the computed scalars are used to interpolate scalars for the unmeasured sections using two different interpolation methods; an extraction step (S4) in which sections for which the absolute value of the difference between the two scalars interpolated therefor using the aforementioned two different interpolation methods is greater than or equal to a prescribed threshold are extracted; and an iteration step (S5) in which the aforementioned steps, from the measurement step (S1) to the extraction step (S4), are repeated using the extracted sections as the abovementioned specified sections.
(FR)La présente invention concerne un procédé de mesure spectroscopique comprenant les étapes suivantes : une étape de mesure (S1) dans laquelle les spectres d'un sous-ensemble spécifié d'une pluralité de sections d'un échantillon sont mesurés; une étape de calcul scalaire (S2) dans laquelle, pour chaque section mesurée, un scalaire qui représente les informations contenues dans le spectre obtenu est calculé; une étape d'interpolation (S3) dans laquelle les scalaires calculés sont utilisés pour interpoler des scalaires pour les sections non mesurées à l'aide de deux procédés différents d'interpolation; une étape d'extraction (S4) dans laquelle les sections pour lesquelles la valeur absolue de la différence entre les deux scalaires connexes interpolées à l'aide des deux procédés différents d'interpolation est supérieure ou égale à un seuil prédéterminé sont extraites; et une étape d'itération (S5) dans laquelle les étapes susmentionnées, à partir de l'étape de mesure (S1) jusqu'à l'étape d'extraction (S4), sont répétées en utilisant les sections extraites en tant que sections spécifiées susmentionnées.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)