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Pub. No.:    WO/2015/124976    International Application No.:    PCT/IB2015/000084
Publication Date: 27.08.2015 International Filing Date: 30.01.2015
G01R 15/18 (2006.01), H01F 38/28 (2006.01)
Applicants: PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD. [JP/JP]; 1-61, Shiromi 2-chome Chuo-ku, Osaka-shi Osaka 540-6207 (JP)
Inventors: YOSHIDA, Hiroshi; (JP).
ENDO, Jumpei; (JP).
MIYAMURA, Yusuke; (JP).
Agent: FIRSTLAW P.C.; 60, Mabang-Ro Seocho-Ku Seoul 137-739 (KR)
Priority Data:
2014-032420 24.02.2014 JP
(JA) 電流測定装置
Abstract: front page image
(EN)An electric current measurement device comprising: a circuit board; an electric current measurement coil that is formed on the circuit board; an integrated circuit that is mounted on the wiring board and has a plurality of legs that protrude to the exterior; two lead lines that are formed on the circuit board and lead from the electric current measurement coil; and connection parts that respectively connect the two lead lines to two legs among the plurality of legs. The electric current measurement device is characterized in that the connection parts are provided with conductive pattern structures that are affected by external magnetic fields in order to counteract the effects of the external magnetic fields on the portions surrounded by the two legs.
(FR)L'invention concerne un dispositif de mesure de courant électrique comprenant : une carte de circuit imprimé ; une bobine de mesure de courant électrique qui est formée sur la carte de circuit imprimé ; un circuit intégré qui est monté sur la carte de câblage et possède une pluralité de pattes qui font saillie vers l'extérieur ; deux lignes de connexion qui sont formées sur la carte de circuit imprimé et mènent depuis la bobine de mesure de courant électrique ; et des pièces de connexion qui relient respectivement les deux lignes de connexion à deux pattes parmi la pluralité de pattes. Le dispositif de mesure de courant électrique est caractérisé en ce que les pièces de connexion sont pourvues de structures à motif conducteur qui sont affectées par les champs magnétiques externes dans le but de contrecarrer les effets des champs magnétiques externes sur les portions entourées par les deux pattes.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)