WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2015124676) INTERFEROMETRIC SENSOR
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2015/124676 International Application No.: PCT/EP2015/053513
Publication Date: 27.08.2015 International Filing Date: 19.02.2015
Chapter 2 Demand Filed: 18.12.2015
IPC:
G01D 5/353 (2006.01) ,G01D 5/26 (2006.01) ,G01R 15/24 (2006.01) ,G01B 9/02 (2006.01)
Applicants: ABB SCHWEIZ AG[CH/CH]; Brown Boveri Strasse 6 5400 Baden, CH
Inventors: GU, Xun; CH
MARCHESE, Sergio Vincenzo; CH
BOHNERT, Klaus; CH
FRANK, Andreas; CH
Agent: ABB PATENT ATTORNEYS; c/o ABB Schweiz AG Intellectual Property Brown Boveri Strasse 6 5400 Baden, CH
Priority Data:
14156090.421.02.2014EP
Title (EN) INTERFEROMETRIC SENSOR
(FR) CAPTEUR INTERFÉROMÉTRIQUE
Abstract: front page image
(EN) An interferometric sensor and related methods are provided, with a sensing element whereby a measurand induces a relative phase shift between two waves, at least one detector measuring an interference signal between the two waves, and further including a phase shift detection unit having as input the interference signal and determining a first measure representative of the principal value (φ, 13) of the relative phase shift, and a contrast detection unit having as input the interference signal for determining a second measure (A, 12) representative of the cross-correlation between the two waves, and a further a processing unit for converting the first and second measures to a measurand value (x).
(FR) L'invention concerne un capteur interférométrique et des procédés associés. Le capteur comprend un élément de détection, par le biais duquel un mesurande induit un décalage de phase relatif entre deux ondes, au moins un détecteur mesurant un signal d'interférence entre les deux ondes, et comprend en outre une unité de détection de décalage de phase ayant en entrée le signal d'interférence et déterminant une première mesure représentative de la valeur principale (φ, 13) du décalage de phase relatif, et une unité de détection de contraste ayant en entrée le signal d'interférence pour déterminer une seconde mesure (A, 12) représentative de la corrélation croisée entre les deux ondes, et une autre unité de traitement pour convertir les première et seconde mesures en valeur de mesurande (x).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)