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1. (WO2015122751) TOGGLING SEQUENCE DETERMINATION METHOD AND ERROR PATTERN DETERMINATION METHOD FOR DETECTING ERROR ON BASIS OF SOFT DECISION VALUE, AND DEVICE THEREOF
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/122751    International Application No.:    PCT/KR2015/001661
Publication Date: 20.08.2015 International Filing Date: 17.02.2015
IPC:
H04L 1/00 (2006.01)
Applicants: UNIVERSITY INDUSTRY FOUNDATION, YONSEI UNIVERSITY WONJU CAMPUS [KR/KR]; 1, Yeonsedae-gil, Heungeop-myeon Wonju-si Gangwon-do 220-710 (KR)
Inventors: KIM, Jae Kwon; (KR).
YUN, Ju Hee; (KR).
KIM, Nu Li Byul; (KR)
Agent: KIM, Bo-min; (KR)
Priority Data:
10-2014-0018106 17.02.2014 KR
Title (EN) TOGGLING SEQUENCE DETERMINATION METHOD AND ERROR PATTERN DETERMINATION METHOD FOR DETECTING ERROR ON BASIS OF SOFT DECISION VALUE, AND DEVICE THEREOF
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'UNE SÉQUENCE DE BASCULEMENT ET PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION D'UN MODÈLE D'ERREUR PERMETTANT DE DÉTECTER UNE ERREUR SUR LA BASE D'UNE VALEUR DE DÉCISION SOUPLE, ET DISPOSITIF AFFÉRENT
(KO) 연판정 값을 기초로 한 오류 검출용 토글링 시퀀스 결정 방법 및 에러 패턴 결정 방법 및 그 장치
Abstract: front page image
(EN)The present invention relates to a toggling sequence determination method and an error pattern determination method for detecting an error on the basis of a soft decision value, and a device thereof. According to a first embodiment of the present invention, the present invention provides a toggling sequence determination method for determining a toggling sequence, in order to optimize a toggling sequence speed, such that a sum of reliability values of a toggled soft decision is toggled by a low order sequentially. According to example 2 of the present invention, provided is an error pattern determination method which is a method for determining an error pattern by comparing syndromes in the order of reliability values of received signals, wherein the method compares a stopping value with the number of error patterns of a first error pattern group (ENb) so as to determine a second unaligned error pattern group (ENb+1').
(FR)La présente invention concerne un procédé de détermination d'une séquence de basculement et un procédé de détermination d'un modèle d'erreur permettant de détecter une erreur sur la base d'une valeur de décision souple, et un dispositif afférent. Selon un premier mode de réalisation, la présente invention concerne un procédé de détermination d'une séquence de basculement permettant de déterminer une séquence de basculement, de manière à optimiser la vitesse d'une séquence de basculement, de sorte que la somme des valeurs de fiabilité d'une décision souple basculée est basculée séquentiellement par un ordre faible. Selon l'exemple 2 de la présente invention, l'invention concerne un procédé de détermination d'un modèle d'erreur qui est un procédé permettant de déterminer un modèle d'erreur en comparant des syndromes dans l'ordre des valeurs de fiabilité des signaux reçus, le procédé comparant une valeur d'arrêt avec le nombre de modèles d'erreur d'un premier groupe de modèles d'erreur (ENb) de manière à déterminer un second groupe de modèles d'erreur non aligné (ENb+1').
(KO)연판정 값을 기초로 한 오류 검출용 토글링 시퀀스 결정 방법 및 에러 패턴 결정 방법 및 그 장치에 관한 것으로서, 본 발명의 제1 실시예에 따르면, 토글링 시퀀스 속도를 최적화하기 위하여 본 발명은 토글링되는 연판정의 신뢰값의 합이 낮은 순서대로 순차적으로 토글링되도록 토글링 시퀀스를 결정하는 토글링 시퀀스 결정 방법을 제공한다. 본 발명의 제2 실시예에 따르면, 수신된 신호의 신뢰값 순서로 신드롬을 비교함으로써 에러 패턴을 결정하는 방법으로서, 중단값과 제1 에러 패턴 그룹(ENb)의 에러 패턴의 수를 비교하여, 제2 미정렬 에러 패턴 그룹(ENb+1')을 결정하는 에러 패턴 결정 방법을 제공한다.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Korean (KO)
Filing Language: Korean (KO)