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1. (WO2015122349) ORIENTATION VARIATION MEASUREMENT SYSTEM, SATELLITE, AND ORIENTATION VARIATION MEASUREMENT METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/122349    International Application No.:    PCT/JP2015/053249
Publication Date: 20.08.2015 International Filing Date: 05.02.2015
IPC:
G01B 11/26 (2006.01), B64G 1/66 (2006.01), G01J 1/06 (2006.01)
Applicants: MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION [JP/JP]; 7-3, Marunouchi 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008310 (JP)
Inventors: SHIMIZU Seiichi; (JP).
KODEKI Kazuhide; (JP).
HARUNA Masaki; (JP)
Agent: KIMURA Mitsuru; (JP)
Priority Data:
2014-025846 13.02.2014 JP
Title (EN) ORIENTATION VARIATION MEASUREMENT SYSTEM, SATELLITE, AND ORIENTATION VARIATION MEASUREMENT METHOD
(FR) SYSTÈME DE MESURE DE VARIATION D'ORIENTATION, SATELLITE, ET PROCÉDÉ DE MESURE DE VARIATION D'ORIENTATION
(JA) 指向変動計測システム、人工衛星及び指向変動計測方法
Abstract: front page image
(EN)Parallel laser light beams (L11, L21) are irradiated from different positions into a telescope (200). Parallel laser light beams (L12, L22) are irradiated from different positions onto a secondary-mirror-attitude detection mirror (127). Laser light detectors (128, 129) detect the laser light beams reflected by the secondary-mirror-attitude detection mirror (127). A first attitude calculation unit (130) determines the amount of change in the attitude of a secondary mirror (230) on the basis of the detection results of laser light detectors (128, 129). Laser light detectors (134, 135) detect the laser light beams irradiated into the telescope (200) and reflected by a primary mirror (220) and the secondary mirror (230). A second attitude calculation unit (136) determines the amount of change in the attitude of the primary mirror (220) on the basis of the detection results of laser light detectors (134, 135) and the detection results of laser light detectors (128, 129).
(FR)L'invention concerne des faisceaux de lumière laser parallèles (L11, L21), qui sont irradiés depuis différentes positions dans un télescope (200). Les faisceaux de lumière laser parallèles (L12, L22) sont irradiés depuis différentes positions sur un miroir de détection d'attitude de miroir secondaire (127). Des détecteurs de lumière laser (128, 129) détectent les faisceaux de lumière laser réfléchis par le miroir de détection d'attitude de miroir secondaire (127). Une première unité de calcul d'attitude (130) détermine l'amplitude de changement de l'attitude d'un miroir secondaire (230) sur la base des résultats de détection de détecteurs de lumière laser (128, 129). Des détecteurs de lumière laser (134, 135) détectent les faisceaux de lumière laser irradiés dans le télescope (200) et réfléchis par un miroir principal (220) et le miroir secondaire (230). Une seconde unité de calcul d'attitude (136) détermine l'amplitude de changement de l'attitude du miroir principal (220) sur la base des résultats de détection de détecteurs de lumière laser (134, 135) et des résultats de détection de détecteurs de lumière laser (128, 129).
(JA) 互いに平行なレーザ光(L11、L21)を望遠鏡(200)に互いに異なる位置から入射する。レーザ光(L12、L22)を副鏡姿勢検出用ミラー(127)に互いに異なる位置から入射する。レーザ光検出器(128、129)は、副鏡姿勢検出用ミラー(127)により反射した各レーザ光を検出する。第1の姿勢演算部(130)は、レーザ光検出器(128、129)の検出結果に基づいて、副鏡(230)の姿勢の変動量を求める。レーザ光検出器(134、135)は、望遠鏡(200)に入射し、主鏡(220)と副鏡(230)とにより反射された各レーザ光を検出する。第2の姿勢演算部(136)は、レーザ光検出器(134、135)の検出結果と、レーザ光検出器(128、129)の検出結果とに基づいて、主鏡(220)の姿勢の変動量を求める。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)