WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2015122060) SURFACE SHAPE MEASUREMENT DEVICE, MACHINE TOOL PROVIDED WITH SAME, AND SURFACE SHAPE MEASUREMENT METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/122060    International Application No.:    PCT/JP2014/079052
Publication Date: 20.08.2015 International Filing Date: 31.10.2014
IPC:
G01B 11/24 (2006.01), B23Q 17/24 (2006.01)
Applicants: DMG MORI CO., LTD. [JP/JP]; 106, Kitakoriyama-cho, Yamatokoriyama-shi, Nara 6391160 (JP)
Inventors: ONO, Katsuhiko; (JP).
NISHIKAWA, Shizuo; (JP)
Agent: FUKAMI PATENT OFFICE, P.C.; Nakanoshima Central Tower, 2-7, Nakanoshima 2-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005 (JP)
Priority Data:
2014-025310 13.02.2014 JP
Title (EN) SURFACE SHAPE MEASUREMENT DEVICE, MACHINE TOOL PROVIDED WITH SAME, AND SURFACE SHAPE MEASUREMENT METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE FORME DE SURFACE, MACHINE-OUTIL LE COMPRENANT ET PROCÉDÉ DE MESURE DE FORME DE SURFACE
(JA) 表面形状測定装置およびそれを備えた工作機械ならびに表面形状測定方法
Abstract: front page image
(EN)In this surface shape measurement device, through triangulation using a light beam (116), a displacement gauge (100) measures the displacement of the surface of an object being measured (130). In a first measurement, while consecutively measuring the object being measured (130) using the displacement gauge (100), a measurement control unit (156) scans the light beam (116) in a direction intersecting with an edge of the object being measured (130) by moving the displacement gauge (100) and object being measured (130) in relation to each other. In a second measurement, in a state in which the orientation of the displacement gauge (100) has been rotated 180 degrees from the orientation of the first measurement with the light beam (116) as the axis of rotational symmetry, the measurement control unit (156) consecutively measures the same positions as in the first measurement using the displacement gauge (100). An edge specification unit (160) specifies the edge position on the basis of the divergence start point at which the measurement values of the first measurement and second measurement start to diverge.
(FR)Selon l'invention, dans ce dispositif de mesure de forme de surface, par triangulation à l'aide d'un faisceau lumineux (116), une jauge de déplacement (100) mesure le déplacement de la surface d'un objet mesuré (130). Dans une première mesure, tout en mesurant consécutivement l'objet mesuré (130) à l'aide de la jauge de déplacement (100), une unité de commande de mesure (156) balaie le faisceau lumineux (116) dans une direction coupant un bord de l'objet mesuré (130) en déplaçant la jauge de déplacement (100) et l'objet mesuré (130) l'un par rapport à l'autre. Dans une seconde mesure, dans un état dans lequel l'orientation de la jauge de déplacement (100) a été tournée de 180 degrés par rapport à l'orientation de la première mesure avec le faisceau lumineux (116) comme axe de symétrie de rotation, l'unité de commande de mesure (156) mesure consécutivement les mêmes positions que dans la première mesure à l'aide de la jauge de déplacement (100). Une unité de spécification de bord (160) spécifie la position de bord, sur la base du point de départ de divergence auquel les valeurs de mesure de la première mesure et de la seconde mesure commencent à diverger.
(JA) 表面形状測定装置において、変位計(100)は、光ビーム(116)を用いた三角測量方式で測定対象物(130)の表面の変位を測定する。第1の測定において、測定制御部(156)は、変位計(100)と測定対象物(130)とを相対的に移動させることによって光ビーム(116)を測定対象物(130)の段差と交差する方向に走査しながら、測定対象物(130)を変位計(100)によって連続的に測定する。第2の測定において、測定制御部(156)は、光ビーム(116)を回転対称軸にして変位計(100)の向きを第1の測定の場合に対して180度回転させた状態で、第1の測定と同一箇所を変位計(100)によって連続的に測定する。段差特定部(160)は、第1および第2の測定による測定値が分離し始める分離開始点に基づいて段差の位置を特定する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)