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1. (WO2015122042) POWER SYSTEM ANALYSIS SUPPORT SYSTEM, POWER SYSTEM ANALYSIS SUPPORT DEVICE, POWER SYSTEM ANALYSIS SUPPORT METHOD, AND POWER SYSTEM MEASURING DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2015/122042 International Application No.: PCT/JP2014/074984
Publication Date: 20.08.2015 International Filing Date: 22.09.2014
IPC:
H02J 13/00 (2006.01)
Applicants: HITACHI, LTD.[JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280, JP
Inventors: TSUNEDOMI Kunihiko; JP
WATANABE Masahiro; JP
OONISHI Tsukasa; JP
Agent: INOUE Manabu; JP
Priority Data:
2014-02629914.02.2014JP
Title (EN) POWER SYSTEM ANALYSIS SUPPORT SYSTEM, POWER SYSTEM ANALYSIS SUPPORT DEVICE, POWER SYSTEM ANALYSIS SUPPORT METHOD, AND POWER SYSTEM MEASURING DEVICE
(FR) SYSTÈME D'AIDE À L'ANALYSE DE SYSTÈME ÉLECTRIQUE, DISPOSITIF D'AIDE À L'ANALYSE DE SYSTÈME ÉLECTRIQUE, PROCÉDÉ D'AIDE À L'ANALYSE DE SYSTÈME ÉLECTRIQUE ET DISPOSITIF DE MESURE DE SYSTÈME ÉLECTRIQUE
(JA) 電力系統解析支援システム、電力系統の解析支援装置、電力系統の解析支援方法、および電力系統用の計測装置
Abstract: front page image
(EN) Provided is a power system analysis support system in which the amount of data transmitted from a measuring device to an analysis support device can be reduced. A measuring device (1) is provided with: a measuring unit (10) for measuring a power system (6); a storage unit (111) for storing measured values measured by the measuring unit; a parameter generation unit (112) for, from a plurality of measured values stored in the storage unit, generating predetermined parameters describing the probability density function of the measured values; and a communication unit (14) for transmitting the predetermined parameters generated by the parameter generation unit to an analysis support device (2). The analysis support device (2) is provided with a communication unit (20) for receiving the predetermined parameters from the measuring device, and a probability density function generation unit (211) for generating the probability density function of the measured values from the received predetermined parameters.
(FR) La présente invention concerne un système d'aide à l'analyse de système électrique dans lequel la quantité de données transmises d'un dispositif de mesure à un dispositif d'aide à l'analyse peut être réduite. Un dispositif de mesure (1) est pourvu : d'une unité de mesure (10) pour mesurer un système électrique (6) ; d'une unité de stockage (111) pour stocker des valeurs mesurées par l'unité de mesure ; d'une unité de génération de paramètres (112) pour, à partir d'une pluralité de valeurs mesurées stockées dans l'unité de stockage, générer des paramètres prédéterminés décrivant la fonction densité de probabilité des valeurs mesurées ; et d'une unité de communication (14) pour transmettre les paramètres prédéterminés générés par l'unité de génération de paramètres à un dispositif d'aide à l'analyse (2). Le dispositif d'aide à l'analyse (2) est pourvu d'une unité de communication (20) pour recevoir les paramètres prédéterminés en provenance du dispositif de mesure, et d'une unité de génération de fonction densité de probabilité (211) pour générer la fonction densité de probabilité des valeurs mesurées à partir des paramètres prédéterminés reçus.
(JA)  計測装置から解析支援装置へ送信するデータ量を低減できるようにした電力系統解析支援システムを提供すること。計測装置1は、電力系統6について測定する測定部10と、測定部の測定した測定値を保存する保存部111と、保存部が保存した複数の測定値から、測定値の確率密度関数を示す所定パラメータを生成するパラメータ生成部112と、パラメータ生成部の生成した所定パラメータを解析支援装置2に送信する通信部14とを備える。解析支援装置2は、計測装置から所定パラメータを受信する通信部20と、受信した所定パラメータから測定値の確率密度関数を生成する確率密度関数生成部211と、を備える。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)