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1. (WO2015118608) SOLAR CELL INSPECTION SYSTEM AND SOLAR CELL INSPECTION METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/118608    International Application No.:    PCT/JP2014/052548
Publication Date: 13.08.2015 International Filing Date: 04.02.2014
IPC:
H02S 50/00 (2014.01), G01R 31/26 (2014.01)
Applicants: HITACHI SYSTEMS, LTD. [JP/JP]; 2-1, Osaki 1-chome, Shinagawa-ku, Tokyo 1418672 (JP)
Inventors: KONO, Toru; (JP).
FUJIMORI, Masaaki; (JP).
KANEKO, Minoru; (JP).
OONISHI, Kentarou; (JP).
NARITA, Yoshihito; (JP).
HIGAMI, Tsunemi; (JP).
NOGUCHI, Eitaro; (JP)
Agent: TSUTSUI, Yamato; Tsutsui & Associates, 3F, Shinjuku Gyoen Bldg., 3-10, Shinjuku 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600022 (JP)
Priority Data:
Title (EN) SOLAR CELL INSPECTION SYSTEM AND SOLAR CELL INSPECTION METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE PILES SOLAIRES
(JA) 太陽電池検査システムおよび太陽電池検査方法
Abstract: front page image
(EN)On the basis of the electrical characteristics of a solar cell string, this solar cell inspection system enables appropriate evaluation of damage, if any, and inspects for breakdowns and deterioration in the solar cell system. In one representative embodiment, this solar cell inspection system is provided with a current-voltage characteristic measurement unit which measures a first current-voltage characteristic of a solar cell string, and an inspection unit which determines on the basis of the first current-voltage characteristic whether or not there are abnormalities in the solar cell string. The inspection unit calculates the operation temperature of the solar cell string on the basis of the first current-voltage characteristic, calculates, on the basis of the operation temperature, the reference slope, which is treated as a value relating to the inclination of a second current-voltage characteristic in a diode region with the solar cell string in a normal state, calculates a measured slope, which is the value relating to the inclination of the first current-voltage characteristic in the diode region, and determines whether or not there are abnormalities in the solar cell string on the basis of a comparison between the reference slope and the measured slope.
(FR)Sur la base des caractéristiques électriques d'une chaîne de piles solaires, la présente invention concerne un système d'inspection de piles solaires qui permet l'évaluation appropriée d'un endommagement, le cas échéant, et qui inspecte les pannes et la détérioration dans le système de piles solaires. Dans un mode de réalisation représentatif, ce système d'inspection de piles solaires est pourvu d'une unité de mesure caractéristique courant-tension qui mesure une première caractéristique courant-tension d'une chaîne de piles solaires et d'une unité d'inspection qui détermine, sur la base de la première caractéristique courant-tension, s'il y a ou non des anomalies dans la chaîne de piles solaires. L'unité d'inspection calcule la température de fonctionnement de la chaîne de piles solaires sur la base de la première caractéristique courant-tension, calcule, sur la base de la température de fonctionnement, la pente de référence, qui est traitée comme une valeur se rapportant à l'inclinaison d'une seconde caractéristique courant-tension dans une région de diode avec la chaîne de piles solaires dans un état normal, calcule une pente mesurée, qui est la valeur se rapportant à l'inclinaison de la première caractéristique courant-tension dans la région de diode et détermine s'il y a ou non des anomalies dans la chaîne de piles solaires sur la base d'une comparaison entre la pente de référence et la pente mesurée.
(JA) 太陽電池ストリングの電気的特性に基づいて、損失が生じている場合にこれを適切に評価可能とし、太陽電池システムの故障や劣化等の有無を検査する太陽電池検査システムである。代表的な実施の形態によれば、太陽電池ストリングの第1の電流-電圧特性を測定する電流-電圧特性測定部と、第1の電流-電圧特性に基づいて太陽電池ストリングの異常の有無を判定する検査部とを有する。検査部は、第1の電流-電圧特性に基づいて、太陽電池ストリングの動作温度を算出し、動作温度に基づいて、太陽電池ストリングの正常状態での第2の電流-電圧特性のダイオード領域における傾きに係る値として取り扱う基準勾配を算出し、第1の電流-電圧特性のダイオード領域における傾きに係る値である測定勾配を算出し、基準勾配と測定勾配との比較に基づいて太陽電池ストリングの異常の有無を判定する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)