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1. (WO2015118435) DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/118435    International Application No.:    PCT/IB2015/050769
Publication Date: 13.08.2015 International Filing Date: 02.02.2015
IPC:
H01L 21/82 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01), H01L 21/822 (2006.01), H01L 27/04 (2006.01), H01L 29/786 (2006.01)
Applicants: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD. [JP/JP]; 398, Hase Atsugi-shi, Kanagawa 2430036 (JP)
Inventors: KUROKAWA, Yoshiyuki; (JP)
Priority Data:
2014-022538 07.02.2014 JP
Title (EN) DEVICE
(FR) DISPOSITIF
Abstract: front page image
(EN)Provided is a device capable of generating a new test pattern after the design stage with the area of a circuit that is not in use during normal operation reduced. The device includes a first circuit and a second circuit. The second circuit includes a plurality of third circuits, a plurality of fourth circuits, and a fifth circuit and has a function of generating a signal for testing operation of the first circuit and operating as part of the first circuit. The fourth circuits have a function of storing first data and second data. The fifth circuit has a function of writing the first data to the fourth circuits, writing the second data to the fourth circuits, and reading the second data from the fourth circuits. The first data is used to control the conduction between the third circuits. The second data is used for processing in the first circuit.
(FR)La présente invention concerne un dispositif capable de générer un nouveau schéma d'essai après la phase de conception, la superficie d'un circuit qui n'est pas utilisée pendant le fonctionnement normal étant réduite. Ledit dispositif comprend un premier circuit et un second circuit. Le second circuit comprend une pluralité de troisièmes circuits, une pluralité de quatrièmes circuits, et un cinquième circuit et il a une fonction de génération d'un signal pour l'essai de fonctionnement du premier circuit et fonctionnant en tant que partie du premier circuit. Les quatrièmes circuits ont une fonction d'enregistrement de premières données et secondes données. Le cinquième circuit a une fonction de l'écriture des premières données dans les quatrièmes circuits, d'écriture des secondes données dans les quatrièmes circuits, et de lecture des secondes données à partir des quatrièmes circuits. Les premières données sont utilisées pour commander la conduction entre les troisièmes circuits. Les secondes données sont utilisées pour le traitement dans le premier circuit.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)