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1. (WO2015117115) THREE-DIMENSIONAL SUPER-RESOLUTION FLUORESCENCE IMAGING USING AIRY BEAMS AND OTHER TECHNIQUES
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/117115    International Application No.:    PCT/US2015/014206
Publication Date: 06.08.2015 International Filing Date: 03.02.2015
IPC:
G02B 27/28 (2006.01)
Applicants: PRESIDENT AND FELLOWS OF HARVARD COLLEGE [US/US]; 17 Quincy Street Cambridge, MA 02138 (US)
Inventors: ZHUANG, Xiaowei; (US).
JIA, Shu; (US)
Agent: CHEN, Tani; (US)
Priority Data:
61/934,928 03.02.2014 US
61/938,089 10.02.2014 US
Title (EN) THREE-DIMENSIONAL SUPER-RESOLUTION FLUORESCENCE IMAGING USING AIRY BEAMS AND OTHER TECHNIQUES
(FR) IMAGERIE TRIDIMENSIONNELLE PAR FLUORESCENCE EN SUPER-RESOLUTION UTILISANT DES FAISCEAUX D'AIRY ET D'AUTRES TECHNIQUES
Abstract: front page image
(EN)The present invention generally relates to super-resolution imaging and other imaging techniques, including imaging in three dimensions. In one aspect, light from emissive entities in a sample may be used to produce polarized beams of light, which can be altered to produce Airy beams. Airy beams can maintain their intensity profiles over large distances without substantial diffraction, according to certain embodiments of the invention. For example, such beams can be used to determine the position of an emissive entity within a sample, and in some embodiments, in 3 dimensions; in some cases, the position may be determined at relatively high resolutions in all 3 dimensions.
(FR)La présente invention concerne de manière générale l'imagerie en super-résolution et d'autres techniques d'imagerie, y compris l'imagerie en trois dimensions. Dans un aspect, la lumière provenant d'entités émissives d'un échantillon est utilisée pour produire des faisceaux de lumière polarisés, qui peuvent être modifiés afin de produire des faisceaux d'Airy. Les faisceaux d'Airy peuvent maintenir leurs profils d'intensité sur de grandes distances sans diffraction sensible, selon certains modes de réalisation de l'invention. Par exemple, de tels faisceaux peuvent être utilisés pour déterminer la position d'une entité émissive à l'intérieur d'un échantillon, et, dans certains modes de réalisation, en 3 dimensions; dans certains cas, la position peut être déterminée à des résolutions relativement élevées dans chacune des 3 dimensions.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)