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1. (WO2015116999) STEREO IMAGING WITH ROTATIONAL-SHEAR INTERFEROMETRY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/116999    International Application No.:    PCT/US2015/013909
Publication Date: 06.08.2015 International Filing Date: 30.01.2015
IPC:
G02B 27/22 (2006.01), H04N 13/04 (2006.01)
Applicants: WAYNE, Leonard, Rodenhausen [US/US]; (US)
Inventors: WAYNE, Leonard, Rodenhausen; (US)
Agent: HAUN, Niels; (US)
Priority Data:
62/056,328 26.09.2014 US
62/053,222 21.09.2014 US
61/933,477 30.01.2014 US
Title (EN) STEREO IMAGING WITH ROTATIONAL-SHEAR INTERFEROMETRY
(FR) IMAGERIE STÉRÉOSCOPIQUE À INTERFÉROMÉTRIE À CONTRAINTE ROTATIONNELLE
Abstract: front page image
(EN)A stereo imaging system and method for generating a three-dimensional image using at least two rotational-shear interferometers. An exemplary system includes a first rotational-shear interferometer and a second rotational-shear interferometer. The first rotational-shear interferometer is configured for collecting first electromagnetic radiation from an object of interest. The second rotational-shear interferometer is configured for collecting second electromagnetic radiation from the object of interest. The first rotational-shear interferometer and the second rotational-shear interferometer are positioned relative to one another to provide stereo imaging of the object of interest. An exemplary method includes steps of collecting, by a first rotational-shear interferometer, first electromagnetic radiation from an object of interest; collecting, by a second rotational-shear interferometer, second electromagnetic radiation from the object of interest, and processing the collected first and second electromagnetic radiation to provide stereo imaging of the object of interest.
(FR)La présente invention porte sur un système d'imagerie stéréoscopique et sur un procédé de génération d'image tridimensionnelle utilisant au moins deux interféromètres à contrainte rotationnelle. Un système donné à titre d'exemple comprend un premier interféromètre à contrainte rotationnelle et un second interféromètre à contrainte rotationnelle. Le premier interféromètre à contrainte rotationnelle est configuré pour capter un premier rayonnement électromagnétique provenant d'un objet d'intérêt. Le second interféromètre à contrainte rotationnelle est configuré pour capter un second rayonnement électromagnétique provenant de l'objet d'intérêt. Le premier interféromètre à contrainte rotationnelle et le second interféromètre à contrainte rotationnelle sont positionnés l'un par rapport à l'autre pour fournir l'imagerie stéréoscopique de l'objet d'intérêt. Un procédé donné à titre d'exemple comprend les étapes consistant à capter, par un premier interféromètre à contrainte rotationnelle, un premier rayonnement électromagnétique provenant d'un objet d'intérêt ; à capter, par un second interféromètre à contrainte rotationnelle, un second rayonnement électromagnétique provenant de l'objet d'intérêt, et à traiter les premier et second rayonnements électromagnétiques captés pour fournir l'imagerie stéréoscopique de l'objet d'intérêt.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)