Some content of this application is unavailable at the moment.
If this situation persist, please contact us atFeedback&Contact
1. (WO2015115426) QUALITY CONTROL DEVICE AND QUALITY CONTROL METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2015/115426 International Application No.: PCT/JP2015/052204
Publication Date: 06.08.2015 International Filing Date: 27.01.2015
IPC:
H05K 13/08 (2006.01) ,G05B 19/418 (2006.01)
H ELECTRICITY
05
ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
K
PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
13
Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
08
Monitoring manufacture of assemblages
G PHYSICS
05
CONTROLLING; REGULATING
B
CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
19
Programme-control systems
02
electric
418
Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control (DNC), flexible manufacturing systems (FMS), integrated manufacturing systems (IMS), computer integrated manufacturing (CIM)
Applicants:
オムロン株式会社 OMRON CORPORATION [JP/JP]; 京都府京都市下京区塩小路通堀川東入南不動堂町801番地 801, Minamifudodo-cho, Horikawahigashiiru, Shiokoji-dori, Shimogyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6008530, JP
Inventors:
光田 裕一 MITSUDA Yuichi; JP
森 弘之 MORI Hiroyuki; JP
小倉 克敏 OGURA Yoshiharu; JP
Agent:
世良 和信 SERA Kazunobu; JP
Priority Data:
2014-01537430.01.2014JP
Title (EN) QUALITY CONTROL DEVICE AND QUALITY CONTROL METHOD
(FR) DISPOSITIF DE CONTRÔLE QUALITÉ ET PROCÉDÉ DE CONTRÔLE QUALITÉ
(JA) 品質管理装置、品質管理方法
Abstract:
(EN) On a production line are provided: a production facility having a function to monitor observation values for a plurality of observation items for detecting an anomaly in operation of the facility itself; and an inspection device which performs inspection of products processed in the production facility. A quality control device comprises: observation data acquisition means which acquires observation data, in which are recorded observation values for each observation item that have been observed in the production facility when each of the products has been processed; and defect factor estimation means which, when a defect with some product has been detected by the inspection device, uses the observation data to compare the observation values when the defective product, for which the defect has been detected, has been processed with observation values when a nondefective product, for which the defect has not been detected, has been processed, and thereby determines whether an anomaly in operation of the production facility, which may be the defect factor, has occurred.
(FR) L'invention concerne, sur une ligne de production : une installation de production qui possède une fonction de surveillance de valeurs d'observation pour une pluralité d'éléments d'observation en vue détecter une anomalie de fonctionnement de l'installation elle-même ; et un dispositif d'inspection qui réalise l'inspection de produits traités dans l'installation de production. Un dispositif de contrôle qualité comprend : des moyens d'acquisition de données d'observation qui acquièrent des données d'observation dans lesquelles sont enregistrées des valeurs d'observation pour chaque élément d'observation qui a été observé dans l'installation de production lorsque chacun des produits a été traité ; et des moyens d'estimation d'un facteur de défaut qui, lorsqu'un défaut dans un certain produit a été détecté par le dispositif d'inspection, utilisent les données d'observation pour comparer les valeurs d'observation, lorsque le produit défectueux sur lequel le défaut a été détecté a été traité, avec les valeurs d'observation lorsqu'un produit non défectueux, sur lequel le défaut n'a pas été détecté, a été traité, et déterminent ainsi s'il s'est produit ou non une anomalie dans le fonctionnement de l'installation de production, laquelle peut être le facteur de défaut.
(JA)  生産ラインには、自機の動作の異常を検知するため複数の観測項目についての観測値を監視する機能を有する生産設備と、前記生産設備で処理された製品の検査を行う検査装置とが設けられている。品質管理装置は、各製品を処理したときに前記生産設備で観測された各観測項目の観測値が記録された観測データを取得する観測データ取得手段と、前記検査装置によってある製品で不良が検出された場合に、前記観測データを用いて、前記不良が検出された不良品を処理したときの観測値と前記不良が検出されなかった良品を処理したときの観測値とを比較することにより、前記不良の要因となり得る前記生産設備の動作の異常が発生しているか判断する不良要因推定手段と、を有する。
front page image
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)