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1. (WO2015113898) METHOD FOR MAPPING CRYSTAL ORIENTATIONS IN A SAMPLE MADE OF A POLYCRYSTALLINE MATERIAL
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/113898    International Application No.:    PCT/EP2015/051313
Publication Date: 06.08.2015 International Filing Date: 23.01.2015
IPC:
G01N 23/225 (2006.01), G01N 21/47 (2006.01), G06T 7/40 (2006.01)
Applicants: INSTITUT NATIONAL DES SCIENCES APPLIQUEES DE LYON [FR/FR]; 20 avenue Albert Einstein 69100 Villeurbanne (FR).
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) [FR/FR]; 3, rue Michel Ange F-75016 Paris (FR).
UNIVERSITE CLAUDE BERNARD LYON 1 [FR/FR]; 43, bvd du 11 Novembre 1918 F-69100 Villeurbanne (FR)
Inventors: LANGLOIS, Cyril; (FR)
Agent: CABINET LTL SAS; Centre d'Entreprise et d'Innovation 56 Boulevard Niels Bohr CS 52132 69603 Villeurbanne Cedex (FR)
Priority Data:
1400207 28.01.2014 FR
Title (EN) METHOD FOR MAPPING CRYSTAL ORIENTATIONS IN A SAMPLE MADE OF A POLYCRYSTALLINE MATERIAL
(FR) PROCEDE DE CARTOGRAPHIE DES ORIENTATIONS CRISTALLINES D'UN ECHANTILLON EN MATERIAU POLYCRISTALLIN
Abstract: front page image
(EN)The invention relates to a method for mapping crystal orientations in a polycrystalline material, the method comprising: receiving (21) a series of images of the polycrystalline material, said images being acquired by an acquiring device such as a scanning electron microscope or focused ion beam, for different illumination geometries, such as for various angles of inclination of said material; estimating (22), from the series of images, at least one intensity profile for at least one considered point of the material, each intensity profile representing the intensity associated with the considered point as a function of the illumination geometry; and determining (24) a crystal orientation for each considered point of the material by comparing (23) the intensity profile associated with said considered point to theoretical intensity profile signatures of known crystal orientations, said signatures being contained in a database.
(FR)L'invention concerne un procédé de cartographie des orientations cristallines d'un matériau polycristallin, le procédé comprenant : • - la réception (21) d'une série d'images du matériau polycristallin acquises par un dispositif d'acquisition, tel q'un microscope électronique à balayage ou une sonde ionique focalisée, pour des géométries d'éclairage différentes, tel que pour différents angles d'inclinaison dudit matériau, • - l'estimation (22) d'au moins un profil d'intensité pour au moins un point considéré du matériau à partir de la série d'images, chaque profil d'intensité représentant l'intensité associée au point considéré en fonction de la géométrie d'éclairage, • - la détermination (24) d'une orientation cristalline pour chaque point considéré du matériau en comparant (23) le profil d'intensité associé audit point considéré à des signatures théoriques de profils d'intensité d'orientations cristallines connues contenues dans une base de données.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: French (FR)
Filing Language: French (FR)