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1. (WO2015040714) Ni BALL, Ni NUCLEAR BALL, SOLDER JOINT, FOAM SOLDER AND SOLDER PASTE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/040714    International Application No.:    PCT/JP2013/075288
Publication Date: 26.03.2015 International Filing Date: 19.09.2013
IPC:
B22F 1/00 (2006.01), B23K 35/14 (2006.01), B23K 35/22 (2006.01), B23K 35/30 (2006.01), B23K 35/40 (2006.01), C22C 19/03 (2006.01), C22F 1/00 (2006.01), C22F 1/10 (2006.01), C22C 13/00 (2006.01)
Applicants: SENJU METAL INDUSTRY CO., LTD. [JP/JP]; 23, Senju-Hashido-cho, Adachi-ku, Tokyo 1208555 (JP)
Inventors: KURATA Ryoichi; (JP).
AKAGAWA Takashi; (JP).
KAWASAKI Hiroyoshi; (JP)
Agent: YAMAGUCHI INTERNATIONAL PATENT FIRM; Takamura Building 5F, 3-14-7, Yushima, Bunkyo-ku, Tokyo 1130034 (JP)
Priority Data:
Title (EN) Ni BALL, Ni NUCLEAR BALL, SOLDER JOINT, FOAM SOLDER AND SOLDER PASTE
(FR) BILLE DE NICKEL, BILLE NUCLÉAIRE DE NICKEL, JOINT À BRASURE TENDRE, BRASURE DE MOUSSE ET PÂTE À BRASER
(JA) Niボール、Ni核ボール、はんだ継手、フォームはんだ、はんだペースト
Abstract: front page image
(EN)Provided is an Ni ball that has a low α-ray amount, even though containing a definite amount or more of impurity elements other than Ni, and has a high sphericity. An Ni ball wherein: the U content is controlled to 5 ppb or less; the Th content is controlled to 5 ppb or less; the purity is controlled to 99.9-99.995% inclusive; the α-ray amount is controlled to 0.0200 cph/cm2 or less; the content of Pb and/or Bi is controlled to 1 ppm or more; and the sphericity is controlled to 0.90 or more, in order to suppress soft errors and reduce connection failures.
(FR)L'invention concerne une bille de nickel (Ni) qui présente une faible quantité de rayons α bien qu'elle contienne une quantité définie, ou davantage, d'éléments d'impuretés autres que le nickel, et qui présente une sphéricité élevée. Une bille de nickel (Ni) est caractérisée en ce que : la teneur en uranium (U) est régulée de sorte à être égale ou inférieure à 5 ppb; la teneur en thorium (Th) est régulée de sorte à être égale ou inférieure à 5 ppb; la pureté est régulée de sorte à être comprise entre 99,9 et 99,995 % inclus; la quantité de rayons α est régulée pour être égale ou inférieure à 0,0200 cph/cm2; la teneur en plomb (Pb) et/ou en bismuth (Bi) est régulée de sorte à être égale ou supérieure à 1 ppm; et la sphéricité est régulée de sorte à être égale ou supérieure à 0,90 afin de supprimer les erreurs passagères et de réduire les défaillances de liaison.
(JA) Ni以外の不純物元素を一定量以上含有してもα線量が少なく真球度が高いNiボールを提供する。 ソフトエラーを抑制して接続不良を低減するためUの含有量を5ppb以下とし、Thの含有量を5ppb以下とし、純度を99.9%以上99.995%以下とし、α線量を0.0200cph/cm以下とし、PbまたはBiのいずれかの含有量、あるいは、PbおよびBiの合計の含有量を1ppm以上とし、真球度を0.90以上とした。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)