WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2015037358) ELECTRON-MICROSCOPE CONFIGURATION SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/037358    International Application No.:    PCT/JP2014/070229
Publication Date: 19.03.2015 International Filing Date: 31.07.2014
IPC:
H01J 37/24 (2006.01), H01J 37/06 (2006.01), H01J 37/22 (2006.01)
Applicants: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION [JP/JP]; 24-14, Nishi Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 1058717 (JP)
Inventors: KONISHI Yayoi; (JP).
USHIO Naoko; (JP).
ANDO Tohru; (JP).
SAITO Tsutomu; (JP).
SHIGETO Kunji; (JP)
Agent: ISONO Michizo; (JP)
Priority Data:
2013-190697 13.09.2013 JP
Title (EN) ELECTRON-MICROSCOPE CONFIGURATION SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE CONFIGURATION DE MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE
(JA) 電子顕微鏡設定システム
Abstract: front page image
(EN)The purpose of this invention is to provide an electron-microscope configuration system that makes it possible for an operator to configure the accelerating voltage of an electron microscope in an intuitive, easy-to-understand, efficient manner without depending on said operator's expertise. This invention includes a display program that displays, on a display unit, an electron-microscope configuration screen that has a first-control display region in which a first control, namely a slider (531), is displayed. Said first control is used to select an accelerating-voltage configuration value for an electron microscope. The aforementioned display program is characterized in that tick marks applied to at least a low-acceleration region (521) of the selection range of the slider (531), i.e. the first control, are displayed such that the intervals therebetween are larger in said low-acceleration region.
(FR)La présente invention vise à fournir un système de configuration de microscope électronique permettant à un opérateur de configurer la tension d'accélération d'un microscope électronique de manière intuitive, facile à comprendre, efficace indépendamment de l'expertise de l'opérateur. À cet effet, le système selon la présente invention comporte un programme d'affichage qui affiche, sur une unité d'affichage, un écran de configuration de microscope électronique qui présente une zone d'affichage de premier contrôle dans laquelle un premier contrôle, à savoir une barre de défilement (531), est affichée. Ledit premier contrôle sert à sélectionner une valeur de configuration de tension d'accélération pour un microscope électronique. Ledit programme d'affichage est caractérisé en ce que des marques de graduation appliquées à au moins une région de faible accélération (521) de la plage de sélection de la barre de défilement (531), c'est-à-dire du premier contrôle, sont affichées de sorte que les intervalles entre elles sont plus grands dans ladite région de faible accélération.
(JA) 本発明は、電子顕微鏡における加速電圧の設定を、熟練に頼らずに操作者にとって直感的に理解しやすく、効率的に行うことができるような操作制御を実現できる電子顕微鏡設定システムを提供することを目的とする。 本発明は、電子顕微鏡の加速電圧の設定値の選択操作を行う第1の操作子としてのスライダ(531)が表示される第1の操作子の表示領域を有する電子顕微鏡設定画面を表示部に表示する表示プログラムを有し、前記表示プログラムは、前記第1の操作子としてのスライダ(531)の選択範囲に対応して付されている、少なくとも低加速域(521)を含む目盛りの目盛り数値間隔が、低加速域において広くなるように表示させることを特徴とする。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)