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Pub. No.:    WO/2015/037296    International Application No.:    PCT/JP2014/065672
Publication Date: 19.03.2015 International Filing Date: 13.06.2014
G06F 17/50 (2006.01)
Applicants: HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventors: SUGIMURA Kazuyuki; (JP).
NONAKA Norihiko; (JP).
KAIHO Masayuki; (JP)
Agent: INOUE Manabu; (JP)
Priority Data:
2013-187881 11.09.2013 JP
(JA) システム解析装置
Abstract: front page image
(EN)Provided is a high-speed and high-precision system analysis device having excellent operability and versatility. In this system analysis device, multiple analysis models having different fidelities are prepared for each analysis region of a system, and this system analysis device performs a coupled analysis by using a menu to select an analysis model and a method for calculating the data coupling at the interfaces between the analysis models. This system analysis device is characterized in that: the method for calculating the data coupling at the interfaces between the analysis models is switched in accordance with a combination of the fidelities of mutually connected analysis models and the data transfer direction; one new analysis model is generated by combining multiple analysis models of different fidelities in the same analysis region; and an analysis model having a lower fidelity is generated from the analysis result of a high-fidelity model in the same analysis region.
(FR)L'invention se rapporte à un dispositif d'analyse de système très rapide et très précis qui a une exploitabilité et une polyvalence excellentes. Dans ce dispositif d'analyse de système, plusieurs modèles d'analyse ayant des fidélités différentes sont préparés pour chaque région d'analyse d'un système, et ce dispositif d'analyse de système réalise une analyse couplée au moyen d'un menu servant à sélectionner un modèle d'analyse et d'un procédé permettant de calculer le couplage de données aux interfaces entre les modèles d'analyse. Ledit dispositif d'analyse de système est caractérisé en ce que : le procédé permettant de calculer le couplage de données aux interfaces entre les modèles d'analyse change conformément à la combinaison des fidélités des modèles d'analyse reliés les uns aux autres et à la direction de transfert de données; un nouveau modèle d'analyse est généré par combinaison de plusieurs modèles d'analyse ayant des fidélités différentes dans la même région d'analyse; et un modèle d'analyse ayant une fidélité plus basse est généré à partir du résultat de l'analyse d'un modèle à haute fidélité dans la même région d'analyse.
(JA) 高速、高精度であり、かつ運用性、汎用性に優れたシステム解析装置を提供することを目的とする。 システムの解析領域ごとに、複数の異なるフィデリティを有する解析モデルが用意され、前記解析モデルと前記解析モデル間の界面におけるデータ連成計算方法をメニューによってそれぞれ選択して連成解析を実行するシステム解析装置であって、前記解析モデル間の界面のデータ連成計算方法が互いに接続される解析モデルのフィデリティの組合せとデータ伝達の方向に応じて切り替えられること、同一の解析領域における複数フィデリティの異なる解析モデルを融合させることによって新しい一つの解析モデルを生み出すこと、同一の解析領域における高いフィデリティモデルの解析結果からより低いフィデリティの解析モデルを生み出すことを特徴とする。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)