WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2015036447) TARGETED MASS ANALYSIS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/036447    International Application No.:    PCT/EP2014/069320
Publication Date: 19.03.2015 International Filing Date: 10.09.2014
IPC:
H01J 49/00 (2006.01)
Applicants: THERMO FISHER SCIENTIFIC (BREMEN) GMBH [DE/DE]; Hanna-Kunath-Str. 11 28199 Bremen (DE)
Inventors: MAKAROV, Alexander Alekseevich; (DE)
Agent: BOULT WADE TENNANT; Verulum Gardens 70 Grays Inn Road London Greater London WC1X 8BT (GB)
Priority Data:
1316164.1 11.09.2013 GB
Title (EN) TARGETED MASS ANALYSIS
(FR) ANALYSE DE MASSE CIBLÉE
Abstract: front page image
(EN)A mass spectrometer comprises: an ion source that generates ions having an initial range of mass-to-charge ratios; an auxiliary ion detector, downstream from the ion source that receives a plurality of first ion samples derived from the ions generated by the ion source and determines a respective ion current measurement for each of the plurality of first ion samples; a mass analyser, downstream from the ion source that receives a second ion sample derived from the ions generated by the ion source and to generate mass spectral data by mass analysis of the second ion sample; and an output stage that establishes an abundance measurement associated with at least some of the ions generated by the ion source based on the ion current measurements determined by the auxiliary ion detector.
(FR)Cette invention concerne un spectromètre de masse comprenant : une source d'ions qui génère des ions ayant des rapports masse/charge dans une plage initiale; un détecteur d'ions auxiliaire, en aval de la source d'ions qui reçoit une pluralité de premiers échantillons d'ions dérivés des ions générés par la source d'ions et détermine une mesure de courant ionique respective pour chaque échantillon d'ions de ladite pluralité de premiers échantillons d'ions; un analyseur de masse, en aval de la source d'ions qui reçoit un second échantillon d'ions dérivés des ions générés par la source d'ions et génère des données de spectre massique par analyse de masse du second échantillon d'ions; et un étage de sortie qui établit une mesure d'abondance associée à au moins certains des ions générés par la source d'ions sur la base des mesures de courant ionique déterminées par le détecteur d'ions auxiliaire.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)