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1. (WO2015035820) IMAGE CORRECTION METHOD AND APPARATUS OF THIN-FILM TRANSISTOR SUBSTRATE DETECTION DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/035820    International Application No.:    PCT/CN2014/081233
Publication Date: 19.03.2015 International Filing Date: 30.06.2014
IPC:
G02F 1/1333 (2006.01), G06T 7/00 (2006.01), H04N 3/227 (2006.01)
Applicants: BOE TECHNOLOGY GROUP CO., LTD. [CN/CN]; No.10 Jiuxianqiao Rd., Chaoyang District Beijing 100015 (CN).
BEIJING BOE OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD. [CN/CN]; No.8 Xihuanzhonglu, BDA Beijing 100176 (CN)
Inventors: LIN, Zijin; (CN).
ZHAO, Haisheng; (CN).
PEI, Xiaoguang; (CN).
DENG, Chaoyang; (CN).
MA, Haitao; (CN)
Agent: LIU, SHEN & ASSOCIATES; 10th Floor, Building 1, 10 Caihefang Road, Haidian District Beijing 100080 (CN)
Priority Data:
201310418622.1 13.09.2013 CN
Title (EN) IMAGE CORRECTION METHOD AND APPARATUS OF THIN-FILM TRANSISTOR SUBSTRATE DETECTION DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE CORRECTION D'IMAGE ET APPAREIL DE DISPOSITIF DE DÉTECTION DE SUBSTRAT DE TYPE TRANSISTOR À FILM MINCE
(ZH) 薄膜晶体管基板的检测设备的图像校正方法及装置
Abstract: front page image
(EN)An image correction method and an apparatus of a thin-film transistor-type (thin-film transistor) substrate detection device, wherein the method comprises: using coordinate information of each pixel point that is obtained by the thin-film transistor substrate detection device in an image of a specified object to calculate an offset value of the image; determining whether the offset value is smaller than a preset threshold value; if no, collecting the image of the specified target, using the offset value to adjust the image and using coordinate information of each pixel in the adjusted image to recalculate an offset value; and if yes, using the offset value as a correction result to correct the image obtained by the thin-film transistor substrate detection device. Thus correction efficiency of the thin-film transistor substrate detection device can be improved and correction accuracy is improved.
(FR)L'invention concerne un procédé de correction d'images et un appareil d'un dispositif de détection de substrat de type transistor à film mince (TFT), le procédé comprenant : l'utilisation d'informations de coordonnées de chaque point de pixel qui est obtenu par le dispositif de détection de substrat de type transistor à film mince dans une image d'un objet spécifié pour calculer une valeur de décalage de l'image ; la détermination du fait que la valeur de décalage est plus petite qu'une valeur seuil pré-établie ; si ce n'est pas le cas, la capture de l'image de la cible spécifiée, l'utilisation de la valeur de décalage pour régler l'image et l'utilisation d'informations de coordonnées de chaque pixel dans l'image réglée pour recalculer une valeur de décalage ; et si c'est le cas, l'utilisation de la valeur de décalage en tant que résultat de correction pour corriger l'image obtenue par le dispositif de détection de substrat de type transistor à film mince. Ainsi, l'efficacité de correction du dispositif de détection de substrat de type transistor à film mince peut être améliorée, et la précision de correction est améliorée.
(ZH)一种薄膜晶体管型(薄膜晶体管)基板检测设备的图像校正方法及装置,其中方法包括:利用薄膜晶体管基板检测设备获取的指定目标的图像中各个像素点的坐标信息,计算所述图像的偏移值;判断所述偏移值是否小于预设的门限值,若不小于,则采集所述指定目标的图像,利用所述偏移值调整所述图像,利用调整后的图像中各个像素的坐标信息,重新计算偏移值;若小于,则将所述偏移值作为校正结果对薄膜晶体管基板检测设备获取的图像进行校正。这样能够提高对薄膜晶体管基板检测设备的校正效率,并且提高了校正的精确度。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
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Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)