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1. (WO2015033478) PEAK DETECTION METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/033478    International Application No.:    PCT/JP2013/074290
Publication Date: 12.03.2015 International Filing Date: 09.09.2013
IPC:
G01N 30/86 (2006.01), G06T 7/40 (2006.01)
Applicants: SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
Inventors: NODA, Akira; (JP).
KOZAWA, Hiroaki; (JP)
Agent: KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
Priority Data:
Title (EN) PEAK DETECTION METHOD
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTECTION DE PIC
(JA) ピーク検出方法
Abstract: front page image
(EN)The present invention addresses the problem of enhancing peak detection accuracy while making negative peak detection using a continuous wavelet transform possible. A continuous wavelet transform with varying scale factors is carried out on a signal waveform under analysis and wavelet coefficients for each time are calculated (S2). A ridge is detected on an image plotting the wavelet coefficient intensity against the scale factor and time, and positive and negative peak candidates are extracted on the basis of the ridge (S3, S4). Thereafter, peak position displacement and width displacement resulting from proximate peak influence is corrected (S5). Then, false negative peaks resulting from negative peak artifacts are removed through identification of peak shape asymmetry, etc. (S6). Subsequently, false peak groups resulting from the removal of high-frequency noise components, etc., and true peak groups, etc., are identified, and the results of the identification are used to remove false peaks (S7, S8).
(FR)La présente invention concerne le problème d’amélioration de la précision de détection de pic tout en rendant possible une détection de pic négatif au moyen d’une transformée d’ondelette. Une transformée d’ondelette continue avec différents facteurs d’échelle est effectuée sur une forme d’onde de signal sous analyse et des coefficients d’ondelette pour chaque temps sont calculés (S2). Une arête est détectée sur une image représentant l’intensité de coefficient d’ondelette en fonction du facteur d’échelle et du temps, et des pics positifs et négatifs candidats sont extraits sur la base de l’arête (S3, S4). Ensuite, le déplacement de position de pic et le déplacement de largeur résultant de l’influence des pics à proximité sont corrigés (S5). Ensuite, les faux pics négatifs résultant d’artefacts de pic négatif sont éliminés par identification d’asymétrie de forme de pic, etc. (S6). Ensuite, des groupes de faux pics résultant de l’élimination de composantes de bruit à haute fréquence, etc., et des groupes de vrais pics, etc., sont identifiés, et les résultats de l’identification sont utilisés pour éliminer les faux pics (S7, S8).
(JA) 本発明の課題は、連続ウェーブレット変換を利用したピーク検出で負ピークの検出も可能としつつ、ピーク検出精度を向上させることである。処理対象である信号波形に対し、スケールファクタを変えた連続ウェーブレット変換を実施して各時間におけるウェーブレット係数を算出する(S2)。スケールファクタ及び時間に対するウェーブレット係数の強度を示す画像上で隆起線を検出し、該隆起線に基づいて正、負ピークの候補を抽出し(S3、S4)たあと、近接ピークの影響によるピーク位置や幅ずれを補正する(S5)。そのあと、ピーク形状の非対称性等を判断することで負ピークアーティファクトによる偽負ピークを除去し(S6)、そのあとに、高周波ノイズの高周波成分が除去されたこと等による偽のピーク群と真のピーク群などを判定し、その結果を利用して偽ピークを除去する(S7、S8)。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)