WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2015033436) DISTANCE MEASUREMENT DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/033436    International Application No.:    PCT/JP2013/074077
Publication Date: 12.03.2015 International Filing Date: 06.09.2013
IPC:
G01S 15/10 (2006.01)
Applicants: RAKUTEN, INC. [JP/JP]; 1-14-1, Tamagawa, Setagaya-ku, Tokyo 1580094 (JP)
Inventors: HAYASHI, Yasuyuki; (JP)
Agent: ARIHARA, Motoji; Elpulimento Shinjuku 308, 7-1, Shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo 1600022 (JP)
Priority Data:
Title (EN) DISTANCE MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE DISTANCE
(JA) 距離測定装置
Abstract: front page image
(EN)A distance measurement device is provided that is capable of specifying, from among a plurality of observed reflected waves that correspond to a single output wave, a reflected wave from an object under measurement. This distance measurement device: is provided with a speaker and a microphone; emits an output wave from the speaker multiple times while moving; acquires waveform data for sound waves that are received by the microphone each time the output wave is emitted and include a plurality of reflected waves resulting from the reflection of the output wave; specifies, from among the plurality of reflected waves, a reflected wave from an object under measurement according to the variation in the reception timing of the reflected waves included in the acquired waveform data for the emissions; and calculates the distance to the object on the basis of the reception timing of the specified reflected wave.
(FR)L'invention fournit un dispositif de mesure de distance qui, lors de l'observation d'une pluralité d'ondes réfléchies par rapport à une onde de sortie, permet de spécifier certaines ondes réfléchies par un objet de la mesure parmi la pluralité d'ondes réfléchies. Plus précisément, l'invention concerne un dispositif de mesure de distance qui est équipé d'un haut-parleur et d'un microphone. Des données qui sont telles que lors du déplacement du dispositif de mesure de distance, des ondes de sortie sont émises depuis le haut-parleur à plusieurs reprises, et reçues par le microphone à chacune de leur émission, et qui sont relatives à la forme d'ondes acoustiques contenues dans la pluralité d'ondes réfléchies produite par réflexion des ondes de sortie, sont acquises. En fonction d'une variation du minutage de réception des ondes réfléchies contenues dans chacune des données relatives à la forme d'ondes ainsi acquises, certaines ondes réfléchies par un objet de la mesure parmi la pluralité d'ondes réfléchies, la distance jusqu'à l'objet est mesurée sur la base du minutage de réception des ondes réfléchies ainsi spécifié.
(JA) 一つの出力波に対して複数の反射波が観測される場合に、複数の反射波の中から測定対象となる対象物による反射波を特定することのできる距離測定装置を提供する。 スピーカー及びマイクロフォンを備え、当該距離測定装置が移動している間にスピーカーから複数回にわたって出力波を発信させ、当該出力波が発信されるごとにマイクロフォンにより受信される、出力波が反射されて生じる複数の反射波を含む音波の波形データを取得し、取得される複数の波形データのそれぞれに含まれる反射波の受信タイミングの変化に応じて、複数の反射波の中から測定対象となる対象物による反射波を特定し、特定される反射波の受信タイミングに基づいて対象物までの距離を算出する距離測定装置である。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)