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1. (WO2015030878) OFFSET CALIBRATION AND ADAPTIVE CHANNEL DATA SAMPLE POSITIONING
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/030878    International Application No.:    PCT/US2014/033529
Publication Date: 05.03.2015 International Filing Date: 09.04.2014
Chapter 2 Demand Filed:    19.09.2014    
IPC:
H04L 7/033 (2006.01), H04L 25/06 (2006.01)
Applicants: XILINX, INC. [US/US]; 2100 Logic Drive San Jose, CA 95124 (US)
Inventors: JENKINS, Michael, O.; (US).
HSIEH, Cheng-Hsiang; (US)
Agent: CARTIER, Lois D.; Xilinx, Inc. Attn: Legal Dept. 2100 Logic Drive San Jose, CA 95124 (US)
Priority Data:
14/013,283 29.08.2013 US
Title (EN) OFFSET CALIBRATION AND ADAPTIVE CHANNEL DATA SAMPLE POSITIONING
(FR) ÉTALONNAGE DE DÉCALAGE ET POSITIONNEMENT ADAPTATIF D'ÉCHANTILLON DE DONNÉES DE CANAL
Abstract: front page image
(EN)A method of sample offset adjustment comprises providing edges associated with an asynchronous input to a receiver (201 ). The waveform edges are densely distributed across an adjustment range. At least a portion of the adjustment range is scanned for samples to obtain an error count (202). A first sample position is fixed, and a second sample position is moved across at least a portion of the adjustment range. A threshold bit error rate ("BER") is located from the scanning (203). An amount and a direction of a sample offset at the threshold BER from a reference location is determined (204). Either the first sample position or the second sample position is adjusted responsive to the amount and the direction of the sample offset to at least reduce the sample offset (205).
(FR)Selon l'invention, une méthode d'ajustement de décalage d'échantillon consiste à fournir des limites associées à une entrée asynchrone à un récepteur (201). Les limites de forme d'onde sont distribuées de façon dense sur une plage d'ajustement. Au moins une partie de la plage d'ajustement est balayée pour identifier des échantillons afin d'obtenir un compte d'erreurs (202). Une première position d'échantillon est fixée, et une deuxième position d'échantillon est déplacée sur au moins une partie de la plage d'ajustement. L'emplacement d'un seuil de taux d'erreur binaire (« BER ») est déterminé à partir du balayage (203). Une quantité et une direction d'un décalage d'échantillon au seuil de BER à partir d'un emplacement de référence sont déterminées (204). Soit la première position d'échantillon ou la deuxième position d'échantillon est ajustée en réponse à la quantité et à la direction du décalage d'échantillon pour réduire au moins le décalage d'échantillon (205).
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)