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1. (WO2015030686) MEASURING METHOD OF SMALL CAPACITANCE IN A CIRCUIT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/030686    International Application No.:    PCT/SI2014/000017
Publication Date: 05.03.2015 International Filing Date: 25.03.2014
IPC:
G01R 27/26 (2006.01), G01R 31/27 (2006.01), G01R 31/28 (2006.01)
Applicants: RC IKT D.O.O. [SI/SI]; Ljubljanska c.24a 4000 Kranj (SI)
Inventors: MARTINJAK, Anton; (SI)
Agent: PIPAN, Marjan; Kotnikova 5 1000 Ljubljana (SI)
Priority Data:
P-201300235 27.08.2013 SI
Title (EN) MEASURING METHOD OF SMALL CAPACITANCE IN A CIRCUIT
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE PETITE CAPACITÉ DANS UN CIRCUIT
Abstract: front page image
(EN)A method for measuring low capacitances, also with a parallel connected resistor, at low frequency, an implementation of the measurement with a conventional DAQ card and a use of the method for measuring VI characteristic together with a graphical representation of dynamic resistance especially of protective diodes in a circuit. The method is based on the measurement of a change in phase shift due to measured capacitance which forms an RC member with the measuring resistor, wherein the resistor is coupled between a generator and a measuring element, to which the measured capacitance is linked.
(FR)La présente invention concerne un procédé de mesure de petites capacités, comprenant également une résistance connectée en parallèle, à basse fréquence, une mise en œuvre de la mesure à l'aide d'une carte DAQ classique et une utilisation du procédé pour mesurer une caractéristique VI conjointement avec une représentation graphique de résistance dynamique, en particulier de diodes de protection dans un circuit. Le procédé repose sur la mesure d'un changement de décalage de phase dû à la capacité mesurée qui forme un élément RC avec la résistance de mesure, ladite résistance étant couplée entre un générateur et un élément de mesure auquel est liée la capacité mesurée.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: Slovene (SL)