WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2015029833) SEMICONDUCTOR DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/029833    International Application No.:    PCT/JP2014/071605
Publication Date: 05.03.2015 International Filing Date: 19.08.2014
IPC:
H03K 17/00 (2006.01), H03K 17/08 (2006.01), H03K 17/12 (2006.01), H03K 17/687 (2006.01)
Applicants: AUTONETWORKS TECHNOLOGIES, LTD. [JP/JP]; 1-14, Nishisuehirocho, Yokkaichi-shi, Mie 5108503 (JP).
SUMITOMO WIRING SYSTEMS, LTD. [JP/JP]; 1-14, Nishisuehirocho, Yokkaichi-shi, Mie 5108503 (JP).
SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES, LTD. [JP/JP]; 5-33, Kitahama 4-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5410041 (JP)
Inventors: TSUKAMOTO, Katsuma; (JP).
YANO, Yusuke; (JP)
Agent: KOHNO, Hideto; (JP)
Priority Data:
2013-179755 30.08.2013 JP
Title (EN) SEMICONDUCTOR DEVICE
(FR) DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEURS
(JA) 半導体装置
Abstract: front page image
(EN) To provide a semiconductor device in which it is possible to prevent a semiconductor element from burning out without incorporating a fuse. A semiconductor device provided with a plurality of semiconductor elements (3, 4) connected in parallel between a direct-current power supply and a load (2) and configured so that the semiconductor elements (3, 4) are simultaneously switched on or off. The present invention is provided with: a voltage detection means (9) for detecting the voltage value between a fixed potential and a connection node, the connection node being between the semiconductor elements (3, 4) and the load (2); a means (1) for determining whether the voltage value detected by the voltage detection means (9) is higher than a predetermined voltage value when the semiconductor elements (3, 4) are switched off; and a means (1) for switching the semiconductor elements (3, 4) on when the determining means (1) determines that the voltage value detected by the voltage detection means (9) is higher.
(FR) La présente invention a pour objet de pourvoir à un dispositif à semi-conducteurs dans lequel il soit possible d'empêcher un élément à semi-conducteurs de griller sans incorporer un fusible. Un dispositif à semi-conducteurs selon l'invention comprend une pluralité d'éléments à semi-conducteurs (3, 4), connectés en parallèle entre une alimentation électrique en courant continu et une charge (2) et configurés de manière que les éléments à semi-conducteurs (3, 4) soient simultanément connectés ou déconnectés. La présente invention est pourvue : d'un moyen de détection de tension (9) pour détecter la valeur de tension entre un potentiel fixe et un nœud de connexion, le nœud de connexion se trouvant entre les éléments à semi-conducteurs (3, 4) et la charge (2); d'un moyen (1) pour déterminer si la valeur de tension détectée par le moyen de détection de tension (9) est supérieure à une valeur de tension prédéterminée quand les éléments à semi-conducteurs (3, 4) sont déconnectés; et d'un moyen (1) pour connecter les éléments à semi-conducteurs (3, 4) lorsque le moyen de détermination (1) détermine que la valeur de tension détectée par le moyen de détection de tension (9) est supérieure.
(JA) ヒューズを内蔵することなく、半導体素子の焼損防止ができる半導体装置の提供。 直流電源及び負荷2間に並列に接続される複数の半導体素子3,4を備え、複数の半導体素子3,4を同時的にオン又はオフにするように構成してある半導体装置。複数の半導体素子3,4及び負荷2の接続節点、並びに固定電位間の電圧値を検出する電圧検出手段9と、複数の半導体素子3,4がオフである場合に、電圧検出手段9が検出した電圧値が所定電圧値より高いか否かを判定する手段1と、判定する手段1が高いと判定したときに複数の半導体素子3,4をオンにする手段1とを備えている。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)