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1. (WO2015029429) ULTRASONIC FLAW-DETECTION DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/029429    International Application No.:    PCT/JP2014/004407
Publication Date: 05.03.2015 International Filing Date: 27.08.2014
IPC:
G01N 29/04 (2006.01)
Applicants: KAWASAKI JUKOGYO KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 1-1, Higashikawasaki-cho 3-chome, Chuo-ku, Kobe-shi, Hyogo 6508670 (JP)
Inventors: YAMAOKA, Toshihiro;
Agent: PATENT CORPORATE BODY ARCO PATENT OFFICE; 3rd Fl., Bo-eki Bldg., 123-1, Higashimachi, Chuo-ku, Kobe-shi, Hyogo 6500031 (JP)
Priority Data:
2013-179633 30.08.2013 JP
Title (EN) ULTRASONIC FLAW-DETECTION DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE DÉTECTION DE DÉFAUT PAR ULTRASONS
(JA) 超音波探傷装置
Abstract: front page image
(EN)An ultrasonic flaw-detection device provided with the following: a flaw-detection head (10) that has a probe that transmits ultrasound towards a specimen (31) comprising a composite material and receives ultrasound reflected off said specimen (31); a movement mechanism (40) that makes the flaw-detection head (10) scan the specimen (31); and a support mechanism (90) that is positioned so as to contact the bottom surface of the specimen (31) and supports said specimen (31). The support mechanism (90) is designed such that the contact area between said support mechanism (90) and the specimen (31) has a prescribed size such that the waveform of ultrasound that reflects off said contact area and is received by the probe does not exceed a certain noise level.
(FR)La présente invention concerne un dispositif de détection de défaut par ultrasons, le dispositif comprenant : une tête de détection de défaut (10) dotée d'une sonde qui émet des ultrasons vers un échantillon (31) comprenant un matériau composite et reçoit les ultrasons réfléchis par ledit échantillon (31) ; un mécanisme de déplacement (40) qui permet à la tête de détection de défaut (10) de balayer l'échantillon (31) ; et un mécanisme de support (90) qui est positionné de façon à être en contact avec la surface inférieure de l'échantillon (31) et qui supporte ledit échantillon (31). Le mécanisme de support (90) est conçu de façon que la zone de contact entre ledit mécanisme de support (90) et l'échantillon (31) ait une taille prédéterminée, ce qui permet à la forme d'onde des ultrasons réfléchis par ladite zone de contact et reçus par la sonde de ne pas dépasser un certain niveau de bruit.
(JA) 複合材で構成されている被検査物(31)に向けて超音波を送信し、被検査物(31)で反射した超音波を受信する探触子を有する探傷ヘッド(10)と、探傷ヘッド(10)を走査させる移動機構(40)と、被検査物(31)の下面と接触するように配置され、被検査物(31)を支持する支持機構(90)と、を備え、支持機構(90)は、被検査物(31)との接触箇所で反射して、探触子で受信される超音波の波形が、ノイズレベルに収まるように、所定の面積で被検査物(31)と接触するように構成されている、超音波探傷装置。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)