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1. (WO2015029336) DISPLAY DEVICE AND DISPLAY METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/029336    International Application No.:    PCT/JP2014/004051
Publication Date: 05.03.2015 International Filing Date: 01.08.2014
IPC:
G09G 3/30 (2006.01), G09G 3/20 (2006.01), H01L 51/50 (2006.01), H05B 33/14 (2006.01)
Applicants: TOPPAN PRINTING CO., LTD. [JP/JP]; 1-5-1, Taito, Taito-ku, Tokyo 1100016 (JP)
Inventors: OGURA, Jun;
Agent: OGASAWARA PATENT OFFICE; Daido-Seimei Esaka Bldg., 13th Floor, 1-23-101, Esakacho, Suita-shi, Osaka 5640063 (JP)
Priority Data:
2013-174668 26.08.2013 JP
Title (EN) DISPLAY DEVICE AND DISPLAY METHOD
(FR) DISPOSITIF D'AFFICHAGE ET PROCÉDÉ D'AFFICHAGE
(JA) 表示装置、および、表示方法
Abstract: front page image
(EN)Provided are a display device and display method that can suppress changes in image quality caused by changing of organic EL device and transistor element characteristics because of increases in the temperature of a display panel caused by the generation of heat by pixel circuits providing drive current to light-emitting elements. The display device is provided with: a plurality of pixel circuits that include transistors for supplying drive current to light-emitting elements; a plurality of dummy pixel circuits that have constitutions identical with the pixel circuits and do not carry out operations providing drive current to light-emitting elements; a selection driver that selects any one of a plurality of scanning lines as a target of selection; and a control unit that controls the driving of the selection driver. Gradient display operations, non-gradient display operations, and detection operations for detecting the characteristics of transistors are repeated in this order, and gradient display voltage is corrected using the results of detection obtained by the detection operations. Detection operations for detecting the characteristics of the transistors are carried out through data lines for the dummy pixel circuits and the temperature characteristics of the pixel circuits are corrected.
(FR)La présente invention porte sur un dispositif d'affichage et un procédé d'affichage qui peuvent supprimer des variations de qualité d'image causées par des variations de caractéristiques de dispositifs EL organiques et d'éléments à transistor en raison d'élévations de température d'un panneau d'affichage causées par la génération de chaleur par des circuits de pixel fournissant un courant d'attaque à des éléments électroluminescents. Le dispositif d'affichage comporte: une pluralité de circuits de pixel qui comprennent des transistors pour fournir un courant d'attaque à des éléments électroluminescents; une pluralité de circuits de pixel factices qui ont des constitutions identiques à celles des circuits de pixel et n'effectuent pas d'opérations fournissant un courant d'attaque à des éléments électroluminescents; un circuit d'attaque de ligne de sélection qui sélectionne une ligne de balayage quelconque parmi une pluralité de lignes de balayage à titre de cible de sélection; et une unité de commande qui commande l'attaque du circuit d'attaque de ligne de sélection. Des opérations d'affichage à dégradé, des opérations d'affichage sans dégradé et des opérations de détection servant à détecter les caractéristiques de transistors sont répétées dans cet ordre, et une tension d'affichage à dégradé est corrigée à l'aide des résultats de détection obtenus par les opérations de détection. Des opérations de détection servant à détecter les caractéristiques des transistors sont exécutées par l'intermédiaire de lignes de données pour les circuits de pixel factices, et les caractéristiques de température des circuits de pixel sont corrigées.
(JA) 発光素子に駆動電流を供給する画素回路の発熱を原因とした表示パネル温度上昇による有機EL素子およびトランジスタ素子特性の変化によって画質が変化するのを抑えることが可能な表示装置および表示方法を提供する。 表示装置は、発光素子に駆動電流を供給するトランジスタを含む複数の画素回路と、画素回路と同一構成でかつ発光素子に駆動電流供給動作を行わない複数のダミー画素回路と、複数の走査線のいずれか1つを選択対象として選択する選択ドライバと、選択ドライバの駆動を制御する制御部とを備え、階調表示動作と、非階調表示動作と、トランジスタの特性を検出する検出動作とをこの順に繰り返し、検出動作によって得られた検出結果を用いて階調表示電圧を補正し、ダミー画素回路に対しデータ線を通じてトランジスタの特性を検出する検出動作を行い画素回路の温度特性を補正する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)