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1. (WO2015029101) CHROMATOGRAPH MASS SPECTROMETER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/029101    International Application No.:    PCT/JP2013/072702
Publication Date: 05.03.2015 International Filing Date: 26.08.2013
IPC:
G01N 30/86 (2006.01), G01N 27/62 (2006.01), G01N 30/72 (2006.01)
Applicants: SHIMADZU CORPORATION [JP/JP]; 1, Nishinokyo-Kuwabara-cho, Nakagyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6048511 (JP)
Inventors: KOBAYASHI, Yuko; (JP).
SUGAWARA, Hiroshi; (JP).
OGURA, Tairo; (JP)
Agent: KYOTO INTERNATIONAL PATENT LAW OFFICE; Hougen-Sizyokarasuma Building, 37, Motoakuozi-tyo, Higasinotouin Sizyo-sagaru, Simogyo-ku, Kyoto-si, Kyoto 6008091 (JP)
Priority Data:
Title (EN) CHROMATOGRAPH MASS SPECTROMETER
(FR) CHROMATOGRAPHE-SPECTROMÈTRE DE MASSE
(JA) クロマトグラフ質量分析装置
Abstract: front page image
(EN)When setting analysis conditions, on a dwell-time calculation/loop-time list screen (400), an analyst sets a target loop-time value corresponding to a measuring time interval for repeating analysis for a single ion and clicks a dwell-time calculation button (402). Then, a dwell-time calculation unit calculates a dwell time for each event on the basis of conditions such as the target loop-time value, the arrangement of the events set at that point in time, and the number of ion types under analysis set for each event. Additionally, these calculation results are displayed in a dwell-time calculation result display row (405) in a list table (403). Further, the maximum and minimum dwell-time values are displayed in a maximum/minimum dwell-time display row (406). The analyst checks the display and changes the target loop-time value and event measurement times so as to achieve an appropriate dwell time.
(FR)Selon la présente invention, lors du réglage de conditions d'analyse, sur un écran (400) de calcul de temps de maintien/liste de temps de boucle, un analyste règle une valeur de temps de boucle cible correspondant à un intervalle de temps de mesure pour la répétition d'une analyse pour un ion unique et appuie sur un bouton de calcul de temps de maintien (402). Ensuite, une unité de calcul de temps de maintien calcule un temps de maintien pour chaque événement, sur la base de conditions telles que la valeur de temps de boucle cible, l'agencement des événements réglé à ce moment donné et le nombre de types d'ion soumis à une analyse, réglé pour chaque événement De plus, ces résultats de calcul sont affichés dans une rangée d'affichage (405) de résultat de calcul de temps de maintien dans un tableau de liste (403). En outre, les valeurs de temps de maintien maximal et minimal sont affichées dans une rangée d'affichage (406) de temps de maintien maximal/minimal. L'analyste vérifie l'affichage et change la valeur de temps de boucle cible et des temps de mesure d'événement de manière à atteindre un temps de maintien approprié.
(JA) 分析条件を設定する際に分析者は、ドウェルタイム計算/ループタイム一覧画面(400)上で1つのイオンに対する分析を繰り返す測定時間間隔に相当するループタイムの目標値を設定し、ドウェルタイム計算ボタン(402)をクリック操作する。すると、ドウェルタイム計算部は、ループタイム目標値、その時点で設定されているイベントの配置、各イベントに設定されている分析対象イオン種の数、などの条件に基づいて、イベント毎にドウェルタイムを計算する。そして、その計算結果を一覧テーブル(403)中のドウェルタイム計算結果表示欄(405)中に表示する。また、ドウェルタイムの最大値・最小値を最大/最小ドウェルタイム表示欄(406)に表示する。分析者はこの表示を確認して、適切なドウェルタイムになるようにループタイム目標値を変更したりイベントの測定時間を変更したりする。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)