WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
PATENTSCOPE will be unavailable a few hours for maintenance reason on Saturday 18.08.2018 at 9:00 AM CEST
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2015028401) METHOD FOR CALIBRATING A LASER DEFLECTION APPARATUS OF A LASER MICRODISSECTION SYSTEM AND LASER MICRODISSECTION SYSTEM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2015/028401 International Application No.: PCT/EP2014/067896
Publication Date: 05.03.2015 International Filing Date: 22.08.2014
IPC:
G02B 21/32 (2006.01) ,G01N 1/28 (2006.01)
Applicants: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH[DE/DE]; CPTD Ernst-Leitz-Strasse 17-37 35578 Wetzlar, DE
Inventors: SCHLAUDRAFF, Falk; DE
TANG, Qing; US
Agent: BRADL, Joachim; CPTD Ernst-Leitz-Strasse 17-37 35578 Wetzlar, DE
Priority Data:
10 2013 216 938.826.08.2013DE
Title (EN) METHOD FOR CALIBRATING A LASER DEFLECTION APPARATUS OF A LASER MICRODISSECTION SYSTEM AND LASER MICRODISSECTION SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE D'UN DÉFLECTEUR LASER D'UN SYSTÈME DE MICRODISSECTION PAR LASER ET SYSTÈME DE MICRODISSECTION PAR LASER
(DE) VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG EINER LASERABLENKEINRICHTUNG EINES LASERMIKRODISSEKTIONSSYSTEMS UND LASERMIKRODISSEKTIONSSYSTEM
Abstract: front page image
(EN) A method for calibrating a laser deflection apparatus in a reflected light apparatus of a microscope of a laser microdissection system, by means of which a laser beam, generated by means of a laser unit of the laser microdissection system and guided by means of the reflected light apparatus through a microscope objective of the microscope, is directed onto a position, defined by actuation signals to the laser deflection apparatus, in an object plane of the microscope objective, is proposed, wherein the laser microdissection system furthermore includes a digital image acquisition unit with an image evaluation module. The method comprises the introduction of a calibration object (52) into the object plane of the microscope objective, the actuation of the laser deflection apparatus by means of first actuation signals, which are calculated on the basis of predetermined position values and using first calibration values, and the generation of at least one calibration marking (53) on the calibration object (52) by means of the laser beam, wherein the calibration object (52) is subsequently acquired by means of the digital image acquisition unit, actual position values of the at least one calibration marking are established by means of the image evaluation module and second calibration values are established on the basis of a relationship between the predetermined position values and the actual position values. The subject matter of the invention also relates to a corresponding laser microdissection system.
(FR) L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'un déflecteur laser dans un moyen d'éclairage incident d'un microscope d'un système de microdissection par laser, lequel déflecteur permet de dévier un faisceau laser, généré au moyen d'une unité laser du système de microdissection par laser et guidé à travers un objectif du microscope à l'aide du moyen d'éclairage incident, sur une position, définie par des signaux de commande du déflecteur laser, dans un plan objet de l'objectif du microscope. Le système de microdissection par laser comprend en outre une unité d'acquisition d'image numérique comportant un module d'analyse d'image. Le procédé comprend les opérations consistant à introduire un objet d'étalonnage (52) dans le plan objet de l'objectif du microscope, commander le déflecteur laser à l'aide de premiers signaux de commande qui sont calculés sur la base de valeurs de position de consigne et à l'aide de premières valeurs d'étalonnage, et générer au moins un repère d'étalonnage (53) sur l'objet d'étalonnage (52) à l'aide du faisceau laser. On détecte ensuite l'objet d'étalonnage (52) à l'aide de l'unité d'acquisition d'image numérique, on détermine des valeurs de position de l'au moins un repère d'étalonnage à l'aide du module d'analyse d'image, et on détermine des secondes valeurs d'étalonnage sur la base d'une relation entre les valeurs de position de consigne et les valeurs de position réelles. L'invention concerne également un système de microdissection par laser correspondant.
(DE) Es wird ein Verfahren zur Kalibrierung einer Laserablenkeinrichtung in einer Auflichteinrichtung eines Mikroskops eines Lasermikrodissektionssystems, durch die ein mittels einer Lasereinheit des Lasermikrodissektionssystems erzeugter und mittels der Auflichteinrichtung durch ein Mikroskopobjektiv des Mikroskops geführter Laserstrahl auf eine durch Ansteuersignale an die Laserablenkeinrichtung definierte Position in einer Objektebene des Mikroskopobjektivs gelenkt wird, vorgeschlagen, wobei das Lasermikrodissektionssystem ferner eine digitale Bilderfassungseinheit mit einem Bildauswertungsmodul aufweist. Das Verfahren umfasst, ein Kalibrationsobjekt (52) in die Objektebene des Mikroskopobjektivs einzubringen, die Laserablenkeinrichtung mit ersten Ansteuersignalen, die auf Grundlage von Positionsvorgabewerten und unter Verwendung von ersten Kalibrationswerten berechnet werden, anzusteuern, und mittels des Laserstrahls zumindest eine Kalibrationsmarkierung (53) auf dem Kalibrationsobjekt (52) zu erzeugen, wobei das Kalibrationsobjekt (52) anschließend mittels der digitalen Bilderfassungseinheit erfasst wird, mittels des Bildauswertungsmoduls Positionsistwerte der wenigstens einen Kalibrationsmarkierung ermittelt werden, und auf Grundlage einer Beziehung der Positionsvorgabewerte und der Positionsistwerte zweite Kalibrationswerte bestimmt werden. Ein entsprechendes Lasermikrodissektionssystem ist ebenfalls Gegenstand der Erfindung.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: German (DE)
Filing Language: German (DE)