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1. (WO2015027777) WATER QUALITY MEASURING METHOD BASED ON SURFACE ENHANCEMENT
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2015/027777    International Application No.:    PCT/CN2014/082507
Publication Date: 05.03.2015 International Filing Date: 18.07.2014
IPC:
G01N 21/31 (2006.01)
Applicants: NORTHEASTERN UNIVERSITY [CN/CN]; No.11, Lane3, Wenhua Street, Heping District Shenyang, Liaoning 110819 (CN)
Inventors: SI, Guangyuan; (CN).
LV, Jiangtao; (CN).
WANG, Fengwen; (CN)
Agent: CN-KNOWHOW INTELLECTUAL PROPERTY AGENT LIMITED; 18th Floor, Tower B, CEC Plaza No. 3 Dan Ling Street, Haidian District Beijing 100080 (CN)
Priority Data:
201310393258.8 02.09.2013 CN
Title (EN) WATER QUALITY MEASURING METHOD BASED ON SURFACE ENHANCEMENT
(FR) PROCÉDÉ DE MESURE DE QUALITÉ D'EAU BASÉ SUR AMÉLIORATION DE SURFACE
(ZH) 基于表面增强的水质检测方法
Abstract: front page image
(EN)A water quality measuring method based on surface enhancement. The method comprises: S1: placing the aqueous solution to be measured in an interlayer of metallic nanopillar arrays, and having a light source to enter one side of a prism and receiving the reflected light of the light source from another side of the prism; S2: changing the interval cycle between the metallic nanopillar arrays, and performing finite-difference time-domain calculation according to the received, reflected light to obtain the transmission spectrum corresponding to different cycles; S3: determining the impurities in the aqueous solution to be measured according to the resonance wavelength of the transmission spectrum. By performing finite-difference time-domain calculation on the reflected light that has passed through the aqueous solution to be measured in the interlayer of the metallic nanopillar arrays, the obtained wave trough value of the transmission spectrum is greater than the theoretical analog value. By generating plasma resonance using the metallic nanopillar arrays to interact with the absorption spectrum of the impurities in the aqueous solution to be measured, the wave trough value of the transmission spectrum is enhanced, thereby substantially enhancing the precision of water quality measurement.
(FR)La présente invention porte sur un procédé de mesure de qualité d'eau basé sur amélioration de surface. Le procédé comprend : S1 : placer la solution aqueuse à mesurer dans une intercouche de réseaux de nanopiliers métalliques, et avoir une source lumineuse pour entrer dans un côté d'un prisme et recevoir la lumière réfléchie de la source lumineuse depuis un autre côté du prisme ; S2 : changer le cycle d'intervalle entre les réseaux de nanopiliers métalliques, et réaliser un calcul de domaine temporel en différence finie selon la lumière réfléchie, reçue pour obtenir le spectre d'émission correspondant à différents cycles ; S3 : déterminer les impuretés dans la solution aqueuse à mesurer selon la longueur d'onde de résonance du spectre d'émission. Par la réalisation du calcul de domaine temporel en différence finie sur la lumière réfléchie qui a traversé la solution aqueuse à mesurer dans l'intercouche des réseaux de nanopiliers métalliques, la valeur vraie d'onde obtenue du spectre d'émission est supérieure à la valeur analogique théorique. Par la génération d'une résonance plasma à l'aide des réseaux de nanopiliers métalliques pour interagir avec le spectre d'absorption des impuretés dans la solution aqueuse à mesurer, la valeur vraie d'onde du spectre d'émission est améliorée, améliorant ainsi sensiblement la précision de mesure de qualité d'eau.
(ZH)一种基于表面增强的水质检测方法,方法包括:S1:将待测水溶液置于金属纳米柱阵列的夹层中,光源从三角棱镜的一边入射,并在所述三角棱镜的另一边接收所述光源的反射光;S2:改变所述金属纳米柱阵列之间间隔的周期,根据接收到的反射光以及通过有限时域差分计算得到不同周期对应的透射光谱;S3:根据所述透射光谱的共振波长判断待测水溶液中的杂质。采用有限时域差分计算透过位于纳米柱阵列夹层的待测水溶液的反射光,得到的透射光谱的波谷值比理论的模拟值要大。通过金属纳米柱阵列发生等离子共振与待测水溶液中的杂质的吸收光谱相作用,对透射光谱的波谷值起增强作用,从而大幅度提高了水质检测的精度。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)