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1. (WO2014210114) GLASS MANUFACTURING SYSTEM INCORPORATING AN OPTICAL LOW-COHERENCE INTERFEROMETRY ASSEMBLY
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/210114    International Application No.:    PCT/US2014/044027
Publication Date: 31.12.2014 International Filing Date: 25.06.2014
IPC:
C03B 17/06 (2006.01), C03C 17/00 (2006.01), C03B 18/04 (2006.01)
Applicants: PPG INDUSTRIES OHIO, INC. [US/US]; 3800 West 143rd Street Cleveland, Ohio 44111 (US)
Inventors: JIAO, Yu; (US).
MCCAMY, James W.; (US).
HANEKAMP, David; (US)
Agent: SIMINERIO, Andrew, C.; (US)
Priority Data:
61/839,899 27.06.2013 US
14/314,238 25.06.2014 US
Title (EN) GLASS MANUFACTURING SYSTEM INCORPORATING AN OPTICAL LOW-COHERENCE INTERFEROMETRY ASSEMBLY
(FR) SYSTÈME DE FABRICATION DE VERRE INCORPORANT UN ENSEMBLE D'INTERFÉROMÉTRIE À FAIBLE COHÉRENCE OPTIQUE
Abstract: front page image
(EN)A float glass system (10) includes a float bath (14) having a pool of molten metal (16). A chemical vapor deposition coater (32) is located in the float bath (14) above the pool of molten metal (16). The coater (32) includes at least one low-coherence interferometry probe (38) located in or on the coater (32) and connected to a low-coherence interferometry system (36). Another low-coherence interferometry probe 138 can be located outside an exit end of the float bath (14) and connected to the same or another low-coherence interferometry system (36).
(FR)Un système de verre flotté (10) comprend un bain de flottage (14) ayant un bassin de métal fondu (16). Un dispositif de revêtement par dépôt chimique en phase vapeur (32) est situé dans le bain de flottage (14) au dessus du bassin de métal fondu (16). Le dispositif de revêtement (32) comprend au moins une sonde d'interférométrie à faible cohérence (38) situé dans ou sur le dispositif de revêtement (32) et relié à un système d'interférométrie à faible cohérence (36). Une autre sonde d'interférométrie à faible cohérence 138 peut être située à l'extérieur d'une extrémité de sortie du bain de flottage (14) et reliée au même système d'interférométrie à faible cohérence (36) ou à un autre.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)