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1. (WO2014207894) INSPECTION JIG, AND PRINTED BOARD INSPECTION SYSTEM EMPLOYING THE INSPECTION JIG
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2014/207894 International Application No.: PCT/JP2013/067819
Publication Date: 31.12.2014 International Filing Date: 28.06.2013
IPC:
G01R 31/02 (2006.01) ,G01R 31/28 (2006.01)
Applicants: MEIKO ELECTRONICS CO., LTD.[JP/JP]; 5-14-15, Ogami, Ayase-shi, Kanagawa 2521104, JP
Inventors: YAMASHITA, Hideaki; JP
Agent: NAGATO, Kanji; 5F, Hyakuraku Bldg., 8-1, Shinbashi 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1050004, JP
Priority Data:
Title (EN) INSPECTION JIG, AND PRINTED BOARD INSPECTION SYSTEM EMPLOYING THE INSPECTION JIG
(FR) MONTAGE D'INSPECTION ET SYSTÈME D'INSPECTION DE CARTE DE CIRCUITS IMPRIMÉS UTILISANT LE MONTAGE D'INSPECTION
(JA) 検査治具およびこの検査治具を用いたプリント基板検査システム
Abstract: front page image
(EN) This inspection jig (2) is an inspection jig which is included in a printed board inspection apparatus (4) for carrying out electrical inspection of a printed board (8) having a first surface (30) and a second surface (32) on the opposite side from the first surface (30), and which is provided with a first retaining assembly (26) for supporting the first surface side of the printed board (8), and a second retaining assembly (28) for supporting the second surface side of the printed board (8). The first retaining assembly (26) includes a first probe pin retainer (36) for retaining a multitude of first probe pins (34), and a first heating plate (54) which can maintain the printed board (8) at a desired set temperature. The second retaining assembly (28) includes a second probe pin retainer (84) for retaining a multitude of second probe pins (34), and a second heating plate (86) which can maintain the printed board (8) at a desired set temperature.
(FR) La présente invention porte sur un montage (2) d'inspection qui est un montage d'inspection qui est compris dans un appareil (4) d'inspection de carte de circuits imprimés destiné à réaliser une inspection électrique d'une carte (8) de circuits imprimés ayant une première surface (30) et une seconde surface (32) sur le côté opposé par rapport à la première surface (30), et qui comporte un premier ensemble (26) de retenue destiné à soutenir le côté première surface de la carte (8) de circuits imprimés, et un second ensemble (28) de retenue destiné à soutenir le côté seconde surface de la carte (8) de circuits imprimés. Le premier ensemble (26) de retenue comprend un premier organe de retenue (36) de broche de sonde destiné à retenir une multitude de premières broches (34) de sonde, et une première plaque (54) chauffante qui peut maintenir la carte (8) de circuits imprimés à une température réglée désirée. Le second ensemble (28) de retenue comprend un second organe de retenue (84) de broche de sonde destiné à retenir une multitude de secondes broches (34) de sonde, et une seconde plaque (86) chauffante qui peut maintenir la carte (8) de circuits imprimés à une température réglée désirée.
(JA)  本発明の検査治具(2)は、第1面(30)及び第1面(30)とは反対側の第2面(32)を有するプリント基板(8)の電気的な検査を行うプリント基板検査装置(4)に含まれる検査治具(2)において、プリント基板(8)の第1面側を支える第1保持アセンブリ(26)と、プリント基板(8)の第2面側を支える第2保持アセンブリ(28)とを備えており、第1保持アセンブリ(26)は、多数の第1プローブピン(34)を保持する第1プローブピン保持体(36)及びプリント基板(8)を所望する設定温度に保つことができる第1加温プレート(54)を含み、第2保持アセンブリ(28)は、多数の第2プローブピン(34)を保持する第2プローブピン保持体(84)及びプリント基板(8)を設定温度に保つことができる第2加温プレート(86)とを含んでいる。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)