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1. (WO2014205875) LIQUID CRYSTAL ALIGNMENT CONTROL SYSTEM AND METHOD
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2014/205875 International Application No.: PCT/CN2013/078776
Publication Date: 31.12.2014 International Filing Date: 04.07.2013
IPC:
G02F 1/1337 (2006.01)
Applicants: SHENZHEN CHINA STAR OPTOELECTRONICS TECHNOLOGY CO., LTD[CN/CN]; No.9-2, Tangming Road, Guangming New District Shenzhen, Guangdong 518132, CN
Inventors: XU, Zhengxing; CN
MO, Shengpeng; CN
Agent: GUANGDONG GUANGHE LAW FIRM; 20/F, Block A. World Trade Plaza FuHong Rd, Futian District Shenzhen, Guangdong 518033, CN
Priority Data:
201310270012.128.06.2013CN
Title (EN) LIQUID CRYSTAL ALIGNMENT CONTROL SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE COMMANDE D'ALIGNEMENT DE CRISTAUX LIQUIDES
(ZH) 液晶配向控制系统及方法
Abstract: front page image
(EN) A liquid crystal alignment control method, comprising the steps of: obtaining a substrate production message for a liquid crystal substrate (200), wherein the substrate production message comprises detection information about various panels (21) of the liquid crystal substrate (200), which represent being qualified or disqualified; according to the detection information about the liquid crystal substrate (200), respectively determining whether each panel (21) of the liquid crystal substrate (200) is qualified or disqualified; controlling an Inca power source (30) to provide a voltage for a qualified panel (21) of the liquid crystal substrate (200) in a first manner; and controlling the Inca power source (30) to provide a voltage for a disqualified panel (21) of the liquid crystal substrate (200) in a second manner. Also provided is a liquid crystal alignment control system (100). The liquid crystal alignment control system (100) and method can still guarantee the liquid crystal alignment of other qualified panels (21) even when a panel (21) of the liquid crystal substrate (200) is disqualified.
(FR) La présente invention porte sur un procédé de commande d'alignement de cristaux liquides, comprenant les étapes consistant à : obtenir un message de production de substrat pour un substrat (200) à cristaux liquides, le message de production de substrat comprenant des informations de détection à propos de différents panneaux (21) du substrat (200) à cristaux liquides, qui représentent le fait d'être qualifié ou disqualifié; selon les informations de détection à propos du substrat (200) à cristaux liquides, déterminer respectivement si chaque panneau (21) du substrat (200) à cristaux liquides est qualifié ou disqualifié; commander une source (30) de puissance Inca pour fournir une tension pour un panneau (21) qualifié du substrat (200) à cristaux liquides d'une première manière; et commander la source (30) de puissance Inca pour fournir une tension pour un panneau (21) disqualifié du substrat (200) à cristaux liquides d'une seconde manière. La présente invention porte également sur un système (100) de commande d'alignement de cristaux liquides. Le système (100) et le procédé de commande d'alignement de cristaux liquides peuvent de plus garantir l'alignement de cristaux liquides d'autres panneaux (21) qualifiés même lorsqu'un panneau (21) du substrat (200) de cristaux liquides est disqualifié.
(ZH) 一种液晶配向控制方法,包括步骤:获得液晶基板(200)的生产基板讯息,其中,该生产基板讯息包括该液晶基板(200)各面板(21)的用以代表合格或不合格的检测信息;根据液晶基板(200)的检测信息而分别确定该液晶基板(200)的每一面板(21)为合格或不合格;控制印加电源(30)对液晶基板(200)的合格的面板(21)以第一种方式提供电压;以及控制该印加电源(30)对液晶基板(200)的不合格的面板(21)以第二种方式提供电压。还提供一种液晶配向控制系统(100)。液晶配向控制系统(100)及方法,能够在液晶基板(200)即使有面板(21)不合格时,仍然能保证其他合格面板(21)的液晶配向。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Chinese (ZH)
Filing Language: Chinese (ZH)