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1. (WO2014203664) HARVEST-PREDICTING SYSTEM AND HARVEST-PREDICTING DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/203664    International Application No.:    PCT/JP2014/063150
Publication Date: 24.12.2014 International Filing Date: 19.05.2014
IPC:
A01G 7/00 (2006.01), G06Q 50/02 (2012.01)
Applicants: HITACHI, LTD. [JP/JP]; 6-6, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008280 (JP)
Inventors: KITANO Yu; (JP).
KAZAMA Yoriko; (JP)
Agent: INOUE Manabu; c/o HITACHI, LTD., 6-1, Marunouchi 1-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1008220 (JP)
Priority Data:
2013-127094 18.06.2013 JP
Title (EN) HARVEST-PREDICTING SYSTEM AND HARVEST-PREDICTING DEVICE
(FR) SYSTÈME DE PRÉDICTION DE RÉCOLTE ET DISPOSITIF DE PRÉDICTION DE RÉCOLTE
(JA) 収量予測システムおよび収量予測装置
Abstract: front page image
(EN)The present invention estimates harvest with high accuracy using aerial images and time series weather data during specified crop growth stages while keeping the number of inspected fields to a minimum. From previously collected images and field attribute information for the inspected region and aerial images taken of the fields that are the target of the inspection, a parameter group to serve as determination criteria for selecting measurement fields that should be inspected is determined. The measurement fields are selected so that the parameter group has variance whenever possible. To reduce the burden of the inspection as much as possible, the measurement field candidates are selected so as to be locationally concentrated as much as possible. By analyzing the weather data time series patterns for each growth stage, a parameter group that correlates to the growth conditions is calculated and harvest is estimated using image feature values, field attribute information and the parameter group as explanatory variables.
(FR)La présente invention estime une récolte avec une haute précision en utilisant des images aériennes et des séries temporelles de données météorologiques pendant des étapes de croissance de culture spécifiées tout en maintenant le nombre de champs inspectés à un minimum. À partir d'images recueillies précédemment et d'informations d'attribut de champ pour la région inspectée et d'images aériennes prises des champs qui sont la cible de l'inspection, un groupe de paramètres servant de critère de détermination pour sélectionner les champs de mesure qui doivent être inspectés est déterminé. Les champs de mesure sont sélectionnés de façon que le groupe de paramètres présente une variance chaque fois que c'est possible. Pour réduire la charge de l'inspection autant que possible, les candidats champs de mesure sont sélectionnés pour être concentrés géographiquement autant que possible. En analysant les motifs des séries temporelles de données météorologiques pour chaque étape de croissance, un groupe de paramètres qui est corrélé aux conditions de croissance est calculé et la récolte est estimée en utilisant des valeurs de caractéristique d'image, des informations d'attribut de champ et le groupe de paramètres en tant que variables explicatives.
(JA) 調査ほ場数をできる限り抑制しながら、空撮画像と農作物の特定の生育ステージにおける時系列気象データを用いて、収量を高精度に推定する。 過去に蓄積された調査地域の画像やほ場の属性情報と、調査対象であるほ場が撮影された空撮画像から、調査すべき実測ほ場を選定するための判断基準となるパラメータ群を決定し、前記パラメータ群ができる限り分散を持つように、実測ほ場を選定し、また調査の負担をできる限り減らすために、実測ほ場の候補ができる限り位置的に集中するように選定する。また気象データの時系列パターンを各生育ステージごとに解析することにより、生育状況に相関のあるパラメータ群を算出し、画像特徴量、ほ場の属性情報と前記パラメータ群を説明変数とした収量推計を実施する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)