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1. (WO2014203071) CONTAMINATION FILTER FOR MASS SPECTROMETER
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2014/203071 International Application No.: PCT/IB2014/001143
Publication Date: 24.12.2014 International Filing Date: 20.06.2014
IPC:
H01J 49/02 (2006.01) ,H01J 49/26 (2006.01) ,G01N 27/62 (2006.01)
Applicants: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE. LTD.[SG/SG]; 33 Marsiling Industrial Estate Road 3 #04-06 739256 Singapore, SG
Inventors: COVEY, Thomas, R.; CA
SCHNEIDER, Bradley, B.; CA
Priority Data:
61/838,18521.06.2013US
62/014,65719.06.2014US
Title (EN) CONTAMINATION FILTER FOR MASS SPECTROMETER
(FR) FILTRE DE CONTAMINATION POUR SPECTROMÈTRE DE MASSE
Abstract: front page image
(EN) Methods and systems for performing mass spectrometry are provided herein. In accordance with various aspects of the applicants' teachings, the methods and systems can utilize an ion mobility spectrometer operating at atmospheric or low- vacuum pressure to remove the major contributors to the contamination and degradation of critical downstream components of a mass spectrometer located within a high-vacuum system (e.g., ion optics, mass filters, detectors), with limited signal loss.
(FR) L'invention porte sur des procédés et sur des systèmes pour effectuer une spectrométrie de masse. Selon différents aspects des enseignements des demandeurs, les procédés et les systèmes peuvent utiliser un spectromètre à mobilité d'ions fonctionnant à une pression atmosphérique ou de faible vide pour retirer les principaux contributeurs à la contamination et à la dégradation de composants aval critiques d'un spectromètre de masse situé à l'intérieur d'un système à vide élevé (par exemple des optiques à ions, des filtres de masse, des détecteurs), avec une perte de signal limitée.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)