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1. (WO2014197208) CALIBRATION DEVICE
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2014/197208 International Application No.: PCT/US2014/038960
Publication Date: 11.12.2014 International Filing Date: 21.05.2014
IPC:
G01R 35/00 (2006.01) ,G01R 31/28 (2006.01)
Applicants: TERADYNE, INC.[US/US]; 600 Riverpark Drive North Reading, Massachusetts 01864, US
Inventors: JOHNSON, Gerald H.; US
NIKOOMANESH, Babak; US
JIN, Chiyi; US
MAICHEN, Wolfgang; DE
Agent: PYSHER, Paul A.; US
Priority Data:
13/912,63007.06.2013US
Title (EN) CALIBRATION DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ÉTALONNAGE
Abstract: front page image
(EN) An example apparatus is for use in calibration of a test system having multiple channels and a socket for receiving a device under test. The example apparatus includes a device interface that is connectable to the socket; and multiple circuit paths, where each circuit path is connectable, through the device interface, to a corresponding channel of the test system and being connected to a common node. The example apparatus is configured so that, during calibration, signals either (i) each pass from the test system, through one of the multiple circuit paths, and back to the test system through others of the multiple circuit paths, or (ii) each pass from the test system, through the others of the multiple circuit paths, and back to the test system through the one of the multiple circuit paths.
(FR) La présente invention se rapporte à un appareil donné à titre d'exemple et destiné à être utilisé lors de l'étalonnage d'un système de test qui comprend de multiples canaux et une prise destinée à recevoir un dispositif sous test. L'appareil donné à titre d'exemple comprend une interface de dispositif qui peut être raccordée à la prise; et de multiples chemins de circuit, chaque chemin de circuit pouvant être raccordé, au moyen de l'interface de dispositif, à un canal correspondant du système de test et étant raccordé à un noeud commun. L'appareil donné à titre d'exemple est configuré de telle sorte que, pendant l'étalonnage, des signaux soit (i) qui vont chacun du système de test, à travers l'un des multiples chemins de circuit et retournent au système de test à travers d'autres chemins des multiples chemins de circuit, soit (ii) qui vont chacun du système de test à travers les autres chemins des multiples chemins de circuit et retournent au système de test à travers le premier chemin des multiples chemins de circuit.
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: English (EN)
Filing Language: English (EN)