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1. (WO2014196129) FAULT ANALYSIS DEVICE, FAULT ANALYSIS METHOD, AND RECORDING MEDIUM
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.:    WO/2014/196129    International Application No.:    PCT/JP2014/002569
Publication Date: 11.12.2014 International Filing Date: 15.05.2014
IPC:
G06F 11/34 (2006.01), G06F 11/30 (2006.01)
Applicants: NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1,Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP)
Inventors: TOGAWA, Ryosuke; (JP)
Agent: SHIMOSAKA, Naoki; c/o NEC CORPORATION, 7-1,Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP)
Priority Data:
2013-116952 03.06.2013 JP
Title (EN) FAULT ANALYSIS DEVICE, FAULT ANALYSIS METHOD, AND RECORDING MEDIUM
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE DE DÉFAILLANCE, PROCÉDÉ D'ANALYSE DE DÉFAILLANCE ET SUPPORT D'ENREGISTREMENT
(JA) 障害分析装置、障害分析方法、および、記録媒体
Abstract: front page image
(EN)Provided is a technology for highly accurately identifying the location of the cause of a fault that has never occurred before in an information processing system having a changing configuration. A fault analysis device is equipped with: a log component extraction unit that extracts log components from log information from an information processing system; a log integration unit that adds related system constituent information to the respective log components and integrates the resulting log components; a pattern extraction unit that extracts a pattern from the integrated log information; a pattern conversion unit (105) that, when a pattern to be analyzed includes system constituent information to be converted, performs a conversion between the information to be converted and system constituent information that resembles the information to be converted either in the pattern to be used for comparison or in the pattern to be analyzed, said system constituent information to be converted being information that is not included in a pattern for comparison that is stored in a pattern storage unit; a pattern comparison means that detects a difference between the pattern to be analyzed and the pattern to be used for comparison; and a cause location presentation unit that presents system constituent information indicated by the difference as the cause location of a fault.
(FR)La présente invention concerne une technologie permettant d'identifier avec une grande précision l'emplacement de la cause d'une défaillance qui ne s'était jamais produite auparavant dans un système de traitement d'informations présentant un changement de configuration. Un dispositif d'analyse de défaillance est équipé : d'une unité d'extraction de composantes de journal qui extrait des composantes de journal d'informations de journal à partir d'un système de traitement d'informations ; d'une unité d'intégration de journal qui ajoute des informations constitutives associées de système aux composantes de journal respectives et intègre les composantes de journal résultantes ; d'une unité d'extraction de configuration qui extrait une configuration des informations de journal intégrées ; d'une unité de conversion de configuration (105) qui, lorsqu'une configuration à analyser comprend des informations constitutives de système à convertir, exécute une conversion entre les informations à convertir et les informations constitutives de système qui ressemblent aux informations à convertir soit dans la configuration à utiliser pour une comparaison soit dans la configuration à analyser, lesdites informations constitutives de système à convertir étant des informations qui ne sont pas comprises dans une configuration de comparaison qui est stockée dans une unité de stockage de configurations ; un moyen de comparaison de configurations qui détecte une différence entre la configuration à analyser et la configuration à utiliser pour une comparaison ; et une unité de présentation d'emplacement de cause qui présente des informations constitutives de système indiquées par la différence en tant qu'emplacement de cause d'une défaillance.
(JA) 構成が変化する情報処理システムにおいても、過去に発生していない障害の原因箇所を精度よく特定する技術を提供する。情報処理システムのログ情報からログ要素を抽出するログ要素抽出手段と、各ログ要素に対して関連するシステム構成要素情報を付加して統合するログ統合手段と、統合ログ情報からパターンを抽出するパターン抽出手段と、分析対象パターンに、パターン記憶手段に記憶された比較対象パターンに含まれないシステム構成要素情報である変換対象システム構成要素情報が含まれる場合、比較対象パターンおよび分析対象パターンのいずれかにおいて、変換対象および変換対象に類似するシステム構成要素情報間の変換を行うパターン変換部105と、分析対象パターンおよび比較対象パターン間の差異を検出するパターン比較手段と、差異の示すシステム構成要素情報を障害の原因箇所として提示する原因箇所提示手段とを備える障害分析装置。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)