WIPO logo
Mobile | Deutsch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Search International and National Patent Collections
World Intellectual Property Organization
Search
 
Browse
 
Translate
 
Options
 
News
 
Login
 
Help
 
Machine translation
1. (WO2014196010) APPEARANCE INSPECTION APPARATUS
Latest bibliographic data on file with the International Bureau   

Pub. No.: WO/2014/196010 International Application No.: PCT/JP2013/065404
Publication Date: 11.12.2014 International Filing Date: 03.06.2013
Chapter 2 Demand Filed: 30.10.2013
IPC:
G01B 11/00 (2006.01) ,G01B 11/24 (2006.01) ,G01N 21/956 (2006.01)
Applicants: YAMAHA HATSUDOKI KABUSHIKI KAISHA[JP/JP]; 2500 Shingai, Iwata-shi, Shizuoka 4388501, JP
Inventors: TABATA, Nobuaki; JP
Agent: MIYAZONO, Hirokazu; Shin-Osaka MT Building I, 13-9, Nishinakajima 5-chome, Yodogawa-ku, Osaka-shi, Osaka 5320011, JP
Priority Data:
Title (EN) APPEARANCE INSPECTION APPARATUS
(FR) APPAREIL D'INSPECTION D'APPARENCE
(JA) 外観検査装置
Abstract: front page image
(EN) An appearance inspection apparatus (100) is provided with: a main image pickup unit (31); and an indirect lighting unit (32) that includes a light source (55), and a reflecting unit (51), which is provided to cover an image pickup position, reflects lighting light emitted from the light source, and applies light to a subject an image of which is to be picked up. The reflecting unit has an opening (53) for performing image pickup or light irradiation with respect to the subject from the outside of the reflecting unit, said opening being provided at a position different from a position where the main image pickup unit is disposed.
(FR) La présente invention concerne un appareil d'inspection d'apparence (100) comprenant : une unité principale de prise d'image (31) ; et une unité d'éclairage indirect (32) qui comprend une source de lumière (55) et une unité de réflexion (51) servant à recouvrir une position de prise d'image, qui réfléchit la lumière d'éclairage émise par la source de lumière et applique une lumière sur un sujet dont l'image doit être prise. L'unité de réflexion comporte une ouverture (53) pour effectuer une prise d'image ou une irradiation de lumière par rapport au sujet à partir de l'extérieur de l'unité de réflexion, ladite ouverture étant située à une position différente d'une position où l'unité principale de prise d'image est disposée.
(JA)  この外観検査装置(100)は、主撮像部(31)と、光源(55)と、撮像位置を覆うように設けられ、光源の照明光を反射させて撮像対象物に照射する反射部(51)とを含む間接照明部(32)とを備える。反射部は、主撮像部の配置位置とは異なる位置に、反射部の外部から撮像対象物に対して撮像または光の照射を行うための開口部(53)を有する。
Designated States: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
African Regional Intellectual Property Organization (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Office (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
European Patent Office (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Publication Language: Japanese (JA)
Filing Language: Japanese (JA)